Occasion KLA / TENCOR / PROMETRIX Omnimap RS-75/TCA #9260211 à vendre en France

KLA/TENCOR/PROMETRIX Omnimap RS-75/TCA est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes haut de gamme développé pour répondre aux exigences rigoureuses de l'industrie des semi-conducteurs. Ce système avancé fournit des services de test et de métrologie rapides, précis et reproductibles pour des wafers jusqu'à 10 ", à des charges de production plus faibles et plus élevées. Il utilise une conception optique avancée pour mesurer et cartographier avec précision diverses caractéristiques et défauts de surface. L'unité dispose de plusieurs modules conçus uniquement pour l'analyse des plaquettes, tels que la RS-75 Wafer Mapping Machine, l'outil de cartographie TCA et KLA Omnimap. Le RS-75 est spécialement conçu pour la distinction/cartographie de plaquettes, l'inspection de die-to-die et fournit un chargement et un déchargement automatisés assistés par robotique. Il dispose d'un codeur linéaire de précision qui fournit une précision de position précise et sans contact. Le TCA la Cartographie de l'Actif permet la reconnaissance des formes pour l'alignement die-die sur les gaufrettes RS-75 et a un modèle d'analyse quantitatif pour la détection de défaut convenable et l'attaque. TENCOR Omnimap, d'autre part, optimise l'inspection et l'analyse des défauts à la fois au niveau des plaquettes et des sous-filières, et peut détecter de multiples types de défauts tels que des hillocks, des défauts de motifs de stress-relief et de petites taches. L'équipement est également équipé d'une gamme complète de matériel et de logiciels pour les essais et la métrologie. Cela comprend des systèmes de programmation pour établir des plans de processus pour l'analyse, une tête d'imagerie haute résolution qui facilite la capture d'images haute résolution, et une bibliothèque d'outils d'acquisition et d'analyse de données pour l'exportation et l'affichage des rapports. Dans l'ensemble, KLA Omnimap RS-75/TCA est un excellent choix pour le test automatisé des plaquettes et la métrologie, car il fournit une gamme de fonctionnalités pour fournir des tests et une analyse complets des plaquettes. Il garantit une précision et une répétabilité optimales avec une gamme complète de matériel et de logiciels, et une analyse robuste des données.