Occasion KLA / TENCOR / PROMETRIX Omnimap RS-75 #9115873 à vendre en France

KLA/TENCOR/PROMETRIX Omnimap RS-75 est un équipement puissant et précis d'essai de plaquettes et de métrologie. Il s'agit d'un système de métrologie automatisé qui fournit une gamme complète de capacités de mesure, d'analyse et de déclaration avec un degré élevé de précision. Il est conçu pour mesurer et analyser le profil, la finition de surface et les caractéristiques dimensionnelles des plaquettes semi-conductrices, et pour fournir un rapport d'inspection détaillé avec les résultats. KLA Omnimap RS-75 est idéal pour la lithographie des plaquettes, la sondes des plaquettes, le comptage des particules, l'analyse des écarts, l'analyse des bords et la mesure des dimensions critiques (CD). Il s'agit d'une unité intégrée avec des éléments d'essais individuels et de métrologie comprenant un microscope optique, un microscope électronique à balayage (SEM), un scatteromètre, un analyseur de taille de goutte et un capteur cinématique de champ de vision. Ces éléments sont combinés dans une configuration efficace et de haute précision qui peut être utilisée pour évaluer rapidement les plaquettes individuelles et la qualité du processus. La capacité d'imagerie haute résolution de la machine permet une imagerie détaillée des caractéristiques des plaquettes. En outre, il dispose d'un grand champ de vision, ce qui permet de tester plus complètement plusieurs plaquettes à la fois. Le SEM est capable de grossissement élevé et peut être utilisé pour l'analyse en profondeur de caractéristiques aussi petites que 10 nanomètres de taille. Le scatteromètre de précision est capable de détecter de petites variations dans l'épaisseur des plaquettes, tandis que l'analyseur de taille des gouttes est capable d'étudier de minuscules variations dans la taille et la forme des particules. Le capteur cinématique de champ de vision fournit des mesures de taille précises pour la comparaison entre plaquettes. TENCOR OMNIMAP RS75 comprend un ensemble complet d'analyse de données qui permet aux utilisateurs d'évaluer et d'interpréter rapidement les données recueillies au cours du processus de test et de métrologie. L'outil génère des graphiques et des rapports détaillés qui donnent un aperçu du traitement et de la performance des plaquettes. Les données peuvent également être utilisées dans l'optimisation et la caractérisation des processus. PROMETRIX OMNIMAP RS75 est robuste et fiable, avec une interface utilisateur intuitive qui le rend facile à configurer et à utiliser. L'actif est également personnalisable et peut être configuré pour répondre à un large éventail de besoins, en fonction des exigences du processus de test de wafer et de métrologie. La combinaison de précision, de vitesse et de fiabilité fait de PROMETRIX Omnimap RS-75 un excellent choix pour les essais de plaquettes et la métrologie.