Occasion KLA / TENCOR / PROMETRIX Omnimap RS-75 #9190988 à vendre en France
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Vendu
ID: 9190988
Style Vintage: 1997
Resistance mapping system
Measurement range: <5 mΩ/sq - >5MΩ/sq
Appropriate probe head: <0.2% (1σ)
Manually loaded single wafer: ≤60 seconds
Typical measurement time: 49-site test
Measurement capabilities:
Routine check: 1-30 sites programmable (ASTM standard tests included)
XY Map: 1,200 sites programmable
Single/Dual configuration capability
Analysis capabilities:
Contour/3D map: 49, 81, 121, 225, 361, 441, 625 sites
Diameter scan: 49, 81, 121, 225, 361, 441, 625 sites
Probe qualification test: 20 sites, programmable radius
Calibration curves for low-dose monitoring
File editing/data extraction capability
Average difference/ratio maps
Trend/SQC charts
Histograms
Data transfer: SECS II/RS232 Communication (Data upload)
Precision probe heads:
40 mil Probe spacing: 100 gm loading
Tip radius: 1.6, 4, 8 and 20 mil
25 mil Probe spacing: 100 gm loading
Tip radius: 1.6, 4, and 8 mil
62.5 mil Probe spacing: 200 gm loading
Tip radius: 1.6 mil
High-speed tester accommodates all standard wafer diameters
in thicknesses up to 2 mm: 2, 3, and 3.25 in; 100, 125, 150 and 200 mm
Includes:
High-resolution color monitor
1.4 MB, 3.5" floppy drive
Fixed hard drive
Line conditioner
EMO Circuitry
Pentium computer
1997 vintage.
KLA/TENCOR/PROMETRIX Omnimap RS-75 est un équipement d'essai et de métrologie avancé conçu avec précision et vitesse. Le système est capable d'effectuer rapidement et avec précision des essais non destructifs et de métrologie sur des plaquettes et d'autres substrats. La KLA Omnimap RS-75 est dotée d'une caméra vidéo anti-reflets haute résolution qui permet d'observer et de mesurer les surfaces et les bords d'une plaquette. Son optique avancée et la résolution de la caméra fournissent des images plus claires, plus détaillées et des mesures précises. Un logiciel de pointe est prévu pour effectuer des opérations telles que l'analyse d'images, le stockage d'images et le traitement d'images, permettant des inspections rapides et efficaces de la surface et des bords d'une plaquette. En plus de sa caméra vidéo à revêtement anti-reflets haute résolution, TENCOR OMNIMAP RS75 comprend un capteur de résolution de 100µm sur deux faces extrêmement précis. Ce capteur offre un haut niveau de précision et de précision et est capable de balayer les deux côtés d'une plaquette et peut ainsi identifier des particules étrangères, des bavures et des irrégularités de surface. L'unité est également équipée de motifs de balayage configurables, permettant une flexibilité et une facilité d'utilisation. PROMETRIX Omnimap RS-75 est également livré de série avec un puissant moteur de balayage et un algorithme de balayage. Cela permet à la machine de scanner avec précision les substrats à la fois dans les axes x-y-z et de faire tourner le substrat autour de l'axe z. Cela permet une analyse et un traitement rapides et efficaces, fournissant une évaluation complète du substrat. La flexibilité et la précision de TENCOR Omnimap RS-75 en font un outil de test et de métrologie exceptionnel. Ses configurations et fonctionnalités avancées en font le choix idéal pour les opérations industrielles de contrôle et d'inspection de la qualité. L'interface intuitive de l'actif le rend facile à utiliser, offrant aux organisations un modèle de test et de métrologie des plaquettes efficace et fiable.
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