Occasion KLA / TENCOR / PROMETRIX Omnimap RS-75 #9365988 à vendre en France

KLA/TENCOR/PROMETRIX Omnimap RS-75 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes spécialement conçu pour l'industrie des semi-conducteurs. Le système fournit une mesure précise et fiable de la topographie des plaquettes, des défauts et d'autres paramètres cruciaux. Il est capable de tests sophistiqués sur des plaquettes de grand format, tout en fournissant une cartographie très détaillée des films optiquement transparents. Les composants clés de l'unité KLA Omnimap RS-75 sont la plate-forme matérielle intégrée d'acquisition et de mesure, la machine d'imagerie avancée et un logiciel puissant, mais facile à utiliser. La plate-forme matérielle se compose d'un scanner, d'un ordinateur et des composants d'outils nécessaires. Le scanner dispose d'un étage X-Y-Z à trois axes, permettant des mouvements précis pour la caractérisation détaillée des plaquettes. L'ordinateur exécute l'actif d'imagerie avancée, qui couple algorithmes sophistiqués et optique haute résolution pour des résultats précis et reproductibles. Le logiciel livré avec le modèle TENCOR OMNIMAP RS75 est adapté aux exigences de l'industrie des semi-conducteurs. Il offre un traitement rapide et efficace des données, une analyse avancée des données et des capacités avancées de reconnaissance des fonctionnalités. Le logiciel offre également des options puissantes pour les outils de visualisation et de visualisation, permettant aux utilisateurs d'évaluer rapidement les résultats de leurs mesures. Omnimap RS-75 est conçu pour fournir une solution de test efficace et fiable pour les données non gaussiennes. Il utilise des paramètres tels que le rayon de courbure, la hauteur des marches et la dérive spatiale pour mesurer avec précision les films. Sa technologie d'imagerie de pointe permet également une inspection précise des défauts dans les films, tandis que sa capacité avancée de reconnaissance de fonctionnalités fournit des caractéristiques de défaut haute résolution pour des applications telles que les défauts dans les films minces et la métrologie de contact. KLA propose également une série d'options d'étalonnage spécialement conçues pour les équipements KLA/TENCOR/PROMETRIX OMNIMAP RS75. Ces options d'étalonnage offrent une précision et une répétabilité élevées, permettant au système de répondre aux normes industrielles les plus strictes. Pour garantir l'intégrité des données, PROMETRIX Omnimap RS-75 stocke automatiquement les résultats d'étalonnage pour la référence de l'utilisateur. PROMETRIX OMNIMAP RS75 est une unité de test et de métrologie avancée destinée à fournir des performances de pointe dans l'industrie des semi-conducteurs. Il dispose d'une plate-forme matérielle intégrée d'acquisition et de mesure, d'un logiciel puissant et facile à utiliser et d'une suite d'options d'étalonnage. La machine fournit des mesures précises et fiables, permettant aux utilisateurs d'évaluer avec confiance les résultats de leurs activités d'essai et de métrologie des plaquettes.