Occasion KLA / TENCOR / PROMETRIX Omnimap RS #9148331 à vendre en France

KLA/TENCOR/PROMETRIX Omnimap RS est un équipement d'essai et de métrologie des plaquettes de pointe utilisé dans l'industrie des semi-conducteurs. Ce système permet des mesures automatisées et de haute précision des paramètres critiques de l'appareil, y compris la dimension critique (CD), la superposition, les paramètres électriques critiques et d'autres caractéristiques au niveau de la plaquette. KLA Omnimap RS fonctionne en temps réel, ce qui le rend extrêmement efficace pour les processus de production. L'unité abrite un sous-système d'imagerie confocale compact et performant qui est utilisé pour diverses applications. Il comporte un ensemble optique composé d'un objectif et d'un laser programmable. Le laser est capable de balayer des faisceaux de haute précision et d'acquérir des images grâce aux objectifs du microscope. Les données obtenues sont utilisées pour les essais et l'analyse des plaquettes en ligne et hors ligne. TENCOR Omnimap RS est équipé d'un certain nombre de fonctionnalités qui rendent le processus de test et de métrologie plus efficace et précis. Un logiciel avant convivial est utilisé pour rationaliser les opérations et la précision des mesures. La machine offre également un contrôle automatisé, y compris des algorithmes de reconnaissance et de détection de défauts, qui réduisent considérablement les erreurs de classification des défauts. L'outil dispose également de capacités d'imagerie haute résolution et d'imagerie en direct. Cela fournit aux utilisateurs une analyse précise en temps réel des plaquettes, garantissant que les paramètres de l'appareil sont mesurés avec précision et rapidité. En outre, Omnimap RS dispose d'un filtre de détection de bord avancé qui augmente la précision des bords. PROMETRIX Omnimap RS est un actif efficace de test de wafer et de métrologie. Il peut évaluer les paramètres de l'appareil rapidement et avec précision, ce qui en fait un outil idéal pour les processus de production. L'imagerie de pointe du modèle, la reconnaissance avancée des fonctionnalités et les algorithmes de détection des défauts offrent aux utilisateurs une solution de test et de métrologie efficace et précise, idéale pour l'industrie des semi-conducteurs.