Occasion KLA / TENCOR / PROMETRIX P-20H #293594524 à vendre en France

KLA/TENCOR/PROMETRIX P-20H est un équipement d'essai et de métrologie des plaquettes de pointe conçu pour inspecter les plaquettes, avant et arrière, au niveau microscopique. Ce système dispose d'une haute résolution optique, conduisant à des mesures précises et rapides non destructives. KLA P-20H comprend une unité unique de cartographie périphérique et structurée des wafers, permettant la cartographie topographique non seulement des surfaces, mais aussi des caractéristiques physiques des wafers. Il dispose d'une inspection à deux faces, avec la métrologie de surface et de motifs de chaque côté de la plaquette. De plus, TENCOR P20H possède des fonctionnalités avancées telles que l'identification automatisée des défauts, la catégorisation des défauts et l'analyse métrologique, permettant une analyse plus efficace et plus précise des plaquettes. PROMETRIX P-20H est alimenté par des algorithmes exclusifs avancés et l'imagerie logique, lui donnant la capacité de fournir des mesures 3D d'épaisseur optique et de résistivité des plaquettes, ainsi que la capacité de reconnaître un large éventail de types de défauts, tels que les défauts de particules, la décharge électrostatique, et les défauts de caractéristiques fabriqués. TENCOR P-20H utilise également des technologies avancées d'éclairage et d'acquisition d'images, y compris la technologie d'éclairage en champ lumineux et en champ sombre ainsi que la technologie des caméras P-20HCCD. Les capacités de balayage avancées de KLA/TENCOR/PROMETRIX P20H sont combinées à son interface utilisateur logicielle avancée. Les caractéristiques comprennent la gestion avancée des données, le contrôle des recettes, la classification statistique des défauts, et son générateur de rapport qui résume toutes les constatations dans un format facile à lire. Il dispose également de capacités d'édition d'images graphiques, permettant l'identification manuelle des défauts sur les propres appareils de l'utilisateur. Cette machine est logée dans une enceinte compatible avec la salle blanche, offrant un environnement à faible bruit et sans poussière pour les essais de plaquettes et la métrologie. Cet environnement est protégé par une variété de technologies avancées de filtrage des poussières, ainsi qu'un outil de détection des particules en suspension dans l'air, isolant davantage la plaquette des particules de poussière pour assurer des mesures précises de P20H. Dans l'ensemble, P-20H est un atout de test et de métrologie des plaquettes de meilleure qualité, produisant des mesures de haute qualité, rapides et précises tout en garantissant un environnement sans poussière et peu bruyant. Il combine les technologies de pointe, la résolution optique, l'interface utilisateur du logiciel et les capacités d'édition d'images graphiques pour fournir à l'utilisateur un modèle fiable et fiable.