Occasion KLA / TENCOR / PROMETRIX P-20H #9101209 à vendre en France

L'équipement KLA/TENCOR/PROMETRIX P-20H est un système d'essai et de métrologie des plaquettes à haut débit qui fournit une solution complète pour l'examen avancé des défauts, le signalement des défauts des plaquettes et l'amélioration de la caractérisation des performances des appareils. KLA P-20H fournit des wafer de précision supérieure et la métrologie des dispositifs emballés avec des capacités avancées d'examen des défauts pour faciliter la validation des processus et l'amélioration des rendements. TENCOR P20H est capable de supporter différents diamètres de plaquettes allant jusqu'à 300mm avec une résolution allant jusqu'à 1µm, profileurs 3D sans contact, systèmes d'imagerie spectroscopique, outils de lithographie optique, solutions d'interférométrie et de scatterométrie, ainsi que l'inspection et le débit de défauts haute densité. L'unité a un débit maximum de 461 wpm, et supporte plusieurs motifs de plaquettes, y compris planaire, via, fil-liaison, et double-côté. La machine dispose également d'outils avancés d'examen des défauts, permettant aux utilisateurs d'isoler et de catégoriser rapidement les défauts afin d'évaluer les processus, de déterminer les causes profondes et d'améliorer les rendements et le contrôle des processus. P-20H soutient les processus d'examen automatisés, ainsi que l'examen manuel des structures complexes telles que les structures d'essai multi-plans et la préparation avancée des échantillons FIB. De plus, l'outil est capable de métrologie au niveau des plaquettes pour les appareils emballés et les appareils MEMS, fournissant une rétroaction rapide sur les performances. L'actif est équipé d'une interface utilisateur intuitive qui permet aux utilisateurs de configurer rapidement de nouveaux projets, d'examiner les résultats et d'exécuter des rapports. En outre, le modèle comprend des outils logiciels pour permettre aux utilisateurs d'analyser rapidement les données et de générer des graphiques pour examen. L'équipement est également capable de s'intégrer à des composants tiers tels que les postes d'examen et les systèmes de classification des défauts. En résumé, PROMETRIX P20H est un système d'essai et de métrologie de plaquettes à haut débit conçu pour fournir une précision supérieure et des capacités avancées d'examen des défauts pour la validation des processus et l'amélioration des rendements. L'unité permet le balisage multi-plans des plaquettes, la révision des défauts, et la caractérisation des dispositifs emballés avec un débit allant jusqu'à 461 wpm. En outre, le logiciel convivial permet de mettre rapidement en place des expériences et d'analyser les résultats. Enfin, la machine peut également être intégrée à d'autres composants, fournissant une solution totale efficace pour les besoins d'essais de plaquettes et de métrologie.