Occasion KLA / TENCOR / PROMETRIX P-20H #9111707 à vendre en France

KLA/TENCOR/PROMETRIX P-20H Wafer Testing and Metrology Equipment est un système automatisé de métrologie de haute précision, conçu pour une variété d'applications critiques d'essais de plaquettes et de métrologie. L'unité offre une conception sophistiquée et une architecture logicielle avancée qui permet aux utilisateurs d'effectuer une variété de tâches de mesure avec précision et rapidité. KLA P-20H utilise une série d'étapes à entraînement direct, qui fournissent une précision ultime dans les mesures de surface et de métrologie composite. Les étages sont équipés de vis à plomb et de codeurs/servomoteurs linéaires pour des performances à haute vitesse et haute résolution. Les étages sont également conçus avec un centre de gravité bas, ce qui assure des mesures fiables sans dérive. TENCOR P20H dispose d'une puissante machine de reconnaissance d'image et d'une capacité d'imagerie optique de pointe. Cet ensemble intégré complexe de technologies de pointe permet de mesurer les surfaces des échantillons avec plus de précision et de fiabilité. L'outil peut être configuré avec jusqu'à 6 caméras, ce qui peut fournir des capacités supérieures de reconnaissance de bord. Les processus d'acquisition et d'analyse d'images sont entièrement automatisés, ce qui permet d'accélérer les cycles de mesure des échantillons et d'améliorer la précision. P-20H est conçu pour une variété de tailles et de formes d'échantillons, y compris ceux avec des topographies complexes. L'actif permet une gamme de mesures, y compris la dimension critique (CD), la superposition, et d'autres fonctionnalités de métrologie 3D. De plus, le modèle est également conçu pour les mesures d'alignement de plaquettes à plaquettes et de plaquettes à masques. KLA P20H offre un design robuste et une variété de fonctionnalités avancées. Il fournit également trois modes de mesure différents, tels que statique, haute résolution, et basse résolution. Avec le mode statique, KLA/TENCOR/PROMETRIX P20H est capable de collecter des échantillons de données plus rapidement que les autres solutions de métrologie. En mode haute résolution, l'équipement peut recueillir des données d'échantillons avec une précision et une répétabilité accrues. Enfin, en mode basse résolution, le système fournit une image à faible bruit avec une qualité d'image fortement améliorée. PROMETRIX P-20H est conçu pour fournir une rétroaction en temps réel sur les résultats de mesure, ainsi que des fonctions d'archivage de données et de génération de rapports. Cette unité supporte également un large choix de processus d'essai et d'inspection des plaquettes. La combinaison de précision, de fiabilité, de performances à grande vitesse et de fonctionnalités avancées en font une solution idéale pour obtenir des mesures précises des plaquettes.