Occasion KLA / TENCOR / PROMETRIX P-20H #9150863 à vendre en France

KLA/TENCOR/PROMETRIX P-20H est un équipement d'essai et de métrologie des plaquettes de pointe conçu pour fournir des mesures et des analyses précises et précises des plaquettes semi-conductrices. Ce système dispose d'un étage de reconnaissance de motifs à actionnement pneumatique pour garantir l'alignement automatique des plaquettes pour des tests et un balayage précis. Il est également équipé d'une unité de positionnement 4 axes à grande vitesse qui permet d'obtenir un contrôle de mouvement très précis pour les exigences de balayage et de test des plaquettes. En outre, la machine est conçue pour tolérer une grande variété de tailles et de configurations de plaquettes et est capable de recueillir des données de différentes zones sur la surface de la plaquette. L'outil KLA P-20H comprend une multitude d'options de métrologie, telles que les mesures d'épaisseur de film, les mesures de la page de guerre des plaquettes, les mesures de résistivité, les mesures de résistance de contact, les mesures de bord des plaquettes et l'imagerie. Il offre également une variété d'options de mesure supplémentaires, comme le balayage des particules, l'analyse topographique et la cartographie des contraintes pour des essais et des analyses plus approfondis. La zone d'inspection peut accueillir jusqu'à trente-deux plaquettes de 6 pouces, qui peuvent être testées et balayées rapidement et simultanément. L'interface utilisateur de l'actif est conçue pour faciliter le fonctionnement et la configuration intuitive et la surveillance. De plus, le modèle peut être utilisé à distance et intégré à d'autres systèmes de contrôle. L'interface utilisateur est également adaptée à la détection rapide et précise des points de défaillance. Il permet la collecte de registres de données et la mesure de la position des plaquettes pour des analyses plus détaillées et la communication des résultats. L'équipement TENCOR P20H est conçu pour fournir des résultats d'essais et de métrologie fiables et précis, même aux débits les plus élevés possibles. Il est également équipé de dispositifs de sécurité avancés pour s'assurer que les essais des plaquettes sont effectués en toute sécurité et en toute sécurité. En outre, il est conçu pour répondre aux normes ISO 9000, ce qui signifie qu'il permet une plus grande traçabilité des données collectées et traitées. Dans l'ensemble, KLA P20H wafer testing and metrology system est un outil puissant et fiable pour des tests précis et la collecte de données à partir de wafers semi-conducteurs. Son interface utilisateur intuitive et ses différentes capacités de test en font un choix idéal pour toute application nécessitant des données détaillées et précises à des débits élevés.