Occasion KLA / TENCOR / PROMETRIX P-20H #9151984 à vendre en France

ID: 9151984
Style Vintage: 1996
Surface profiler 1996 vintage.
KLA/TENCOR/PROMETRIX P-20H est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour la détection de précision, la métrologie et d'autres applications. Ce système offre une grande précision, répétabilité, et comprend plusieurs fonctionnalités qui permettent l'automatisation avancée des tests de plaquettes. KLA P-20H est une unité de métrologie et d'essai à double tête qui utilise un robot de charge/déchargement ainsi que la technologie de manutention des plaquettes sous vide. Il est alimenté par un ordinateur à usage général avec un processeur de base Intel, machine d'exploitation Windows 10 Pro, et une interface utilisateur graphique pour faciliter le fonctionnement. L'outil comprend également une carte d'acquisition de données spécialisée qui est capable de mesurer et d'analyser différents types de signaux générés par des processus de test de plaquettes et de métrologie. L'actif dispose d'une tête multi-scann qui permet de sonder rapidement et avec précision les structures de test, tout en supportant une gamme de types de plaquettes. Il est également capable de balayage à faible courant et haute tension, permettant de sonder une large gamme de caractéristiques et de géométries de plaquettes. TENCOR P20H utilise le modèle d'imagerie LAQuarVIS qui combine l'utilisation d'un module d'imagerie linéaire et un mouvement d'étage de haute précision pour fournir à la fois une grande précision et la répétabilité des résultats. Cet équipement est conçu avec un certain nombre de fonctions automatisées, y compris l'alignement automatique, les mesures de référence et la saisie automatisée des données. P20H est également intégré au progiciel ProberLink qui permet une intégration facile des sondes de plaquettes dans les systèmes de test automatisés. Ce logiciel permet également de visualiser, de synchroniser et d'analyser facilement les données de test des plaquettes. Enfin, PROMETRIX P20H a la capacité de stocker une variété de paramètres de test, permettant la génération de résultats reproductibles et fiables. Dans l'ensemble, KLA/TENCOR/PROMETRIX P20H wafer testing and metrology system est une solution idéale pour la recherche avancée, la métrologie et l'automatisation des processus de test de wafer. Grâce à sa grande précision, sa répétabilité et ses fonctions automatisées, KLA P20H facilite la réalisation de diverses tâches de test de plaquettes avec facilité et précision.
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