Occasion KLA / TENCOR / PROMETRIX RS-100 #9072401 à vendre en France

KLA/TENCOR/PROMETRIX RS-100 est un système révolutionnaire de test et de métrologie de plaquettes qui offre des performances supérieures dans une plate-forme modulaire automatisée. Cette plate-forme comprend cinq processus clés, dont l'examen des défauts, le collage, le réticule, la réflectance et la topographie. Le processus d'examen des défauts analyse les imperfections de la plaquette et crée un rapport complet sur les défauts. Le rapport décrit les défauts et les erreurs avec la plaquette, y compris l'emplacement, le type et la gravité. Ce processus peut détecter des caractéristiques aussi petites que 25nm sans avoir besoin d'un équipement optique supplémentaire. Le processus de collage permet la création de liaisons fils et rubans fiables avec des temps de cycle incroyablement rapides. Ce procédé utilise un algorithme précis de contrôle de pression pour s'assurer que les forces de liaison correctes sont appliquées quelle que soit la qualité et l'état de la plaquette. De plus, le procédé est capable de coller n'importe quelle taille de plaquette. Le processus de motif réticulaire permet la réplication précise de l'image réticulaire sur la plaquette. Le processus est très fiable et utilise des algorithmes avancés pour obtenir un contrôle précis et la précision. De plus, il est capable de reproduire des motifs réticulaires sur différents substrats de matériaux tels que l'aluminium, le silicium et l'or. Le processus de réflectance assure un contrôle précis de la réflectance de la plaquette sans nécessiter de réglages mécaniques. Cela permet des sorties de réflectance contrôlées et très précises. Le processus de topographie prend une mesure détaillée des surfaces des plaquettes pour l'amincissement des plaquettes et la préparation pour le collage. Le processus est entièrement automatisé, éliminant le besoin de travail manuel. Dans l'ensemble, KLA RS-100 wafer testing and metrology system offre une plate-forme automatisée et performante pour les applications de wafer testing et de métrologie. Avec cinq processus centraux, des algorithmes avancés, un contrôle précis et une grande précision, le système est un choix idéal pour les professionnels du test et de la métrologie.