Occasion KLA / TENCOR / PROMETRIX RS-30 #293655446 à vendre en France

KLA/TENCOR/PROMETRIX RS-30 est un équipement d'essai et de métrologie avancé conçu et utilisé dans l'industrie des semi-conducteurs. Ce système permet de tester et de mesurer avec précision et fiabilité les propriétés des plaquettes telles que la largeur des lignes, la rugosité de la surface, la couverture des puces, etc. Grâce à son imagerie intégrée haute résolution, KLA RS-30 est capable de détecter des défauts subtils et d'autres anomalies dans une large gamme de plaquettes semi-conductrices. L'unité utilise la technologie de vision automatisée pour capturer des milliers d'images individuelles. Ces images sont traitées à l'aide d'algorithmes avancés pour générer des cartes de défauts détaillées de la plaquette. Ces cartes peuvent ensuite être utilisées pour l'évaluation de métriques telles que les propriétés électriques, optiques et mécaniques des plaquettes. TENCOR RS-30 offre une gamme complète de capacités de test. Il dispose de systèmes avancés pour l'imagerie, l'analyse et la détection des défauts. La machine a intégré microscopie optique, interférométrie laser, et d'autres capacités de métrologie qui peuvent être utilisés pour mesurer les caractéristiques subtiles des plaquettes. Ses capacités d'imagerie permettent à l'utilisateur de recueillir des images très détaillées d'une grande variété de matériaux de plaquettes. PROMETRIX RS-30 dispose également d'une gamme d'outils d'analyse modale qui sont utilisés pour mesurer une variété de propriétés des plaquettes. Ceci comprend des propriétés mécaniques telles que la fréquence de résonance, ainsi que des propriétés matérielles telles que des constantes diélectriques et mécaniques. Ces algorithmes sont utilisés pour identifier des éléments tels que des défauts ponctuels, des dislocations, des dépôts de particules et des zones localisées de résistance accrue aux gravures. En plus de ses capacités d'imagerie, RS-30 dispose également d'un progiciel d'analyse de données avancé. Cet outil est utilisé pour traiter les images et générer une représentation précise des propriétés de la plaquette. L'actif peut être utilisé pour évaluer un large éventail de caractéristiques matérielles et électriques. Cela comprend des cartes complètes des défauts et des rapports de contrôle des processus. KLA/TENCOR/PROMETRIX RS-30 wafer testing and metrology model est un outil avancé qui offre aux utilisateurs une précision et une fiabilité inégalées dans la caractérisation des wafers. Sa gamme complète d'outils et de systèmes permet aux utilisateurs de mesurer et d'analyser les caractéristiques des plaquettes avec la plus grande précision. Grâce à ses capacités avancées de détection et d'imagerie des défauts, KLA RS-30 rend le processus de caractérisation et d'analyse des plaquettes à la fois efficace et hautement fiable.