Occasion KLA / TENCOR / PROMETRIX RS-35 #9284324 à vendre en France

KLA/TENCOR/PROMETRIX RS-35 est un équipement d'essai et de métrologie des plaquettes de haute précision qui offre des capacités de métrologie avancées. Ce système fournit la caractérisation des wafers, le contrôle des processus et l'examen et l'analyse des défauts, fournissant l'analyse la plus détaillée et la plus précise des wafers et des dispositifs disponibles. Il utilise une unité d'acquisition d'images de pointe pour capturer rapidement des images 2D et 3D, avec jusqu'à 1000 x 1000 pixels. KLA RS35 guide automatiquement l'opérateur à chaque étape, et intègre une machine optique à haute résolution avec des étages motorisés, avec des plages de balayage allant jusqu'à 10 cm. Il est équipé d'algorithmes avancés pour assurer l'identification et l'optimisation automatisées des fonctionnalités pendant le processus de balayage. TENCOR RS 35 est conçu pour aider au développement de dispositifs de haute précision sur des plaquettes semi-conductrices, telles que des structures plates, des largeurs de ligne, des hauteurs de pas et des structures de terrasse. Il est équipé d'une gamme d'outils de métrologie, y compris la scatterométrie optique et la spectroscopie infrarouge à transformée de Fourier, pour des caractérisations plus appropriées. La combinaison de ces outils permet une visualisation complète du dispositif étudié, ainsi qu'une mesure très précise et précise de ses différents attributs. L'UCK RS-35 est en outre équipée d'outils logiciels pour l'analyse des données, tels que le calcul des défauts, des images et des paramètres, ainsi que de tous les outils nécessaires à la communication et à la gestion des données. Ses capacités d'analyse des données permettent de détecter les défauts et les irrégularités avec une visualisation en temps réel des produits 3D. En outre, il peut être connecté à d'autres systèmes KLA, permettant le transfert automatique de programmes et une meilleure synchronisation des données. Dans l'ensemble, RS-35 est un outil très avancé équipé des technologies et des ressources les plus récentes dans les essais de plaquettes et la métrologie. Ses capacités, sa précision et sa facilité d'utilisation le rendent idéal pour l'analyse et le développement de dispositifs de haute précision sur plaquettes semi-conductrices.