Occasion KLA / TENCOR / PROMETRIX RS-35C #9293257 à vendre en France

L'équipement KLA/TENCOR/PROMETRIX RS-35C Wafer Testing and Metrology est un outil puissant, de haute précision et entièrement automatique utilisé pour évaluer la topologie de surface des wafers semi-conducteurs. Le système utilise une variété de mesures optiques, mécaniques et électriques avancées pour fournir des informations détaillées sur la surface de la plaquette et ses propriétés de matériau associées. La sonde et la tête de mesure sont des outils de haute précision capables de détecter même les moindres changements de topographie et de qualité de substrat. L'unité KLA RS-35C est capable d'effectuer une variété de mesures de surface et de services de métrologie, y compris, mais sans s'y limiter, la rugosité de surface, l'angle de contact, le profil de surface, la pente de surface, la taille des particules, la composition, la finition de surface, la texture de surface et les mesures de décharge d'étincelles. Il réalise également une variété d'images microscopiques, telles que la microscopie électronique à balayage (SEM), la microscopie à force atomique (AFM) et la microscopie à balayage tunnel (STM). De plus, la machine effectue la détection des défauts, la classification des défauts et les géométries des appareils, ainsi que la comparaison matérielle, la caractérisation en coordonnées globales et locales, l'analyse 3D et la couture 3D. L'outil TENCOR RS 35C est livré avec une option de spectroscopie Raman, qui utilise la fluorescence induite par laser pour détecter diverses espèces chimiques à la surface d'une plaquette. L'actif est également livré avec un compteur de particules, qui mesure les caractéristiques des particules en termes de taille, de forme et de composition, ainsi qu'un modèle de mesure de l'angle de contact. Ce dernier utilise une technique optique pour mesurer les angles de contact entre matériaux et liquides. L'équipement RS 35C est entièrement automatisé et exploité par ordinateur, offrant une gamme de fonctions de contrôle et de traitement avancées. Il est construit sur une architecture modulaire avec des composants de contrôle de mouvement flexibles, permettant une haute précision et des opérations automatisées, permettant des temps de démarrage rapides. Il comprend également une analyse avancée, un traitement numérique des images et des signaux, et une interface conviviale qui permet une personnalisation facile de l'outil en fonction des besoins des utilisateurs et des applications. RS-35C système fournit des mesures répétables et fiables avec une précision, une répétabilité et une reproductibilité sans précédent, ce qui en fait un outil idéal pour évaluer la qualité des plaquettes semi-conductrices. Sa flexibilité et son large éventail de capacités de mesure et d'analyse en font un outil précieux pour les essais de plaquettes dans une variété d'industries, telles que les industries semi-conductrices, automobile, aérospatiale, électronique, optique et médicale.