Occasion KLA / TENCOR / PROMETRIX RS-35E Omnimap #9187374 à vendre en France

KLA/TENCOR/PROMETRIX RS-35E Omnimap est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour la production et la fabrication de semi-conducteurs. Ce système est capable de fournir une analyse rapide, précise et complète de la topographie de surface d'une plaquette. L'unité dispose d'une machine d'imagerie auto-focus et auto-exposition, ainsi que de mesures 3D multiples automatisées et d'imagerie haute résolution. KLA RS-35E Omnimap est composé de trois composants : un étage, un outil optique et un contrôleur d'actifs. Le modèle est conçu avec une grande étape de balayage et une faible empreinte, ce qui en fait un choix idéal pour le test de la ligne de production. L'étage dispose d'un équipement d'entraînement motorisé et est capable de balayer des plaquettes plates avec une vitesse linéaire précise à une plage de vitesses. Le système utilise une combinaison de paliers à air et un entraînement différentiel pour une performance et une précision optimales. L'unité optique est constituée d'une tête d'imagerie confocale 3D haute résolution qui permet une cartographie de surface automatisée des caractéristiques asphériques. Il utilise une machine brevetée à haute résolution laser autofocus qui assure la plus grande précision et précision dans les mesures de surface. Un outil d'imagerie numérique fournit une imagerie optique haute résolution avec une résolution de 4k pixels, donnant aux utilisateurs la capacité de visualiser et d'analyser les topologies de surface avec des détails élevés. Enfin, TENCOR RS-35E Omnimap est également équipé d'un contrôleur d'actifs convivial qui dispose d'une interface graphique et d'un logiciel puissant. Ce logiciel comprend des capacités pour plusieurs mesures 3D, ainsi que des outils pour la visualisation, l'analyse et le reporting de données. PROMETRIX RS-35E Omnimap est conçu pour fournir une mesure fiable et précise de la topographie de surface d'une plaquette. Il dispose de mesures 3D multiples automatisées et de l'imagerie haute résolution, ce qui en fait un choix idéal pour les tests de wafer avancés et la métrologie. Ce modèle est parfaitement adapté à la production et à la fabrication de semi-conducteurs et garantit la plus grande précision et précision dans les mesures de surface.