Occasion KLA / TENCOR / PROMETRIX RS-55TCA #9312456 à vendre en France

KLA/TENCOR/PROMETRIX RS-55TCA Wafer Testing and Metrology Equipment est un instrument de métrologie semi-conductrice haut de gamme spécialement conçu pour mesurer avec précision, fiabilité et précision les structures des dispositifs au niveau des plaquettes sur les substrats de silicium. Il est doté d'un système breveté de traitement d'image haute résolution, d'un traitement d'image de pointe, d'un logiciel de traitement et d'analyse des données et d'une interface utilisateur souple et intuitive. L'unité fournit une métrologie automatisée et des tests de plaquettes, permettant une détermination rapide et précise de la topographie de plaquettes de haute précision et des paramètres du dispositif. Cela permet de mesurer avec précision des paramètres critiques tels que l'épaisseur du film, les hauteurs des marches, les largeurs des lignes, le recouvrement, etc. Il comprend également un alignement et un enregistrement précis des mesures et des plaquettes, des inspections automatisées et des tests optiques et électriques pour les plaquettes de silicium. La machine KLA RS 55 TCA peut fonctionner à des vitesses élevées afin de scanner jusqu'à 16 wafers pleins en une seule course. Il fournit également des solutions avancées d'imagerie et d'analyse avec une variété d'options allant de la détection de profil de bord à l'inspection automatisée des défauts. L'outil est également capable d'exécuter simultanément des processus de prétraitement d'échantillons, tels que le nettoyage et la cuisson. Cela permet des tests rapides et précis des plaquettes, éliminant le besoin de fonctionnement manuel et de retravaillage. Les algorithmes propriétaires de traitement d'image fournissent un excellent contraste d'image et des images nettes pour mesurer avec précision les caractéristiques des plaquettes. L'atout est également facilement valorisable, offrant aux utilisateurs la flexibilité de mettre à niveau leurs systèmes aux dernières technologies en métrologie. Les capacités d'automatisation avancées fournies par le modèle permettent aux utilisateurs de réduire le coût et le temps associés aux tests des appareils. TENCOR RS-55/TCA Wafer Testing and Metrology Equipment est une solution rentable pour les besoins d'essais de wafer et de métrologie. Il dispose d'une interface utilisateur intuitive et facile à utiliser, de capacités de traitement de données robustes et de processus automatisés sophistiqués. Cela le rend idéal pour une large gamme d'applications de métrologie industrielle et de recherche et d'essais de matériaux, allant de l'analyse avancée des dispositifs de structures semi-conductrices à l'analyse avancée des défaillances des dispositifs MEMS.