Occasion KLA / TENCOR / PROMETRIX RS-75 #293628452 à vendre en France

KLA / TENCOR / PROMETRIX RS-75
ID: 293628452
Resistivity mapping system.
KLA/TENCOR/PROMETRIX RS-75 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes qui fournit des mesures très précises des propriétés électriques et mécaniques des substrats semi-conducteurs. Le système est spécialement configuré pour mesurer les propriétés de divers matériaux utilisés dans l'industrie des semi-conducteurs, tels que des isolants, des métaux et d'autres couches se chevauchant. Les performances supérieures de l'instrument et son interface facile à utiliser offrent des capacités d'acquisition et d'analyse de données polyvalentes. KLA RS75 dispose d'un balayage multi-niveaux hautement stable et automatisé qui permet de suivre avec précision les contraintes résiduelles de surface et les paramètres liés à la contrainte. Ce balayage à plusieurs niveaux mesure rapidement les caractéristiques dimensionnelles de la surface des plaquettes en trois dimensions, y compris la topographie, la rugosité de la surface et l'épaisseur. L'unité intègre également une routine d'auto-étalonnage intégrée qui assure la précision de l'auto-étalonnage de routine. Avec un entraînement piézo-basé stable et une large gamme de mesures, TENCOR RS 75 offre des résultats précis et reproductibles. TENCOR RS-75 est conçu avec une architecture modulaire pour un fonctionnement efficace des stations de test. Une variété de porte-échantillons et de fixations, ainsi que des paramètres d'analyse personnalisables, sont disponibles pour les essais de plaquettes. Plusieurs options de balayage d'échantillons sont également disponibles, comme le balayage X-Y, le balayage ligne, et le balayage circulaire. De plus, plusieurs options d'entrée vidéo permettent l'imagerie en temps réel de l'échantillon pendant le test. KLA/TENCOR/PROMETRIX RS 75 est équipé d'une interface graphique intuitive qui permet aux utilisateurs de personnaliser les paramètres, de surveiller le processus de test et de revoir les résultats des tests. La facilité d'utilisation en fait un choix populaire parmi les technologues semi-conducteurs. Pour faciliter l'acquisition et l'analyse de données, la machine comprend une gamme d'outils d'analyse de données tels que l'analyse de contraintes/contraintes et l'analyse de contraintes à vie. Avec ses caractéristiques polyvalentes, PROMETRIX RS-75 est un outil essentiel pour mesurer et analyser les caractéristiques électriques, mécaniques et dimensionnelles des substrats semi-conducteurs. Cet outil de test et de métrologie offre des performances supérieures avec une précision et une reproductibilité fiables des données, ce qui en fait le choix idéal pour toute application liée aux semi-conducteurs.
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