Occasion KLA / TENCOR / PROMETRIX RS-75 #9163275 à vendre en France
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KLA/TENCOR/PROMETRIX RS-75 Wafer Testing and Metrology Equipment est un appareil de précision pour les essais non destructifs, la caractérisation et la métrologie des matériaux dans l'industrie des semi-conducteurs. Ce système fournit une productivité élevée en augmentant le débit, la précision et l'automatisation. KLA RS75 est une unité automatisée sans contact capable de mesurer diverses propriétés physiques des matériaux semi-conducteurs, y compris la constante diélectrique, la contrainte résiduelle, l'épaisseur de la couche, la teneur en vide et la rugosité de surface. La machine fournit également des capacités de test de plaquettes complètes grâce à des algorithmes optimisés et des fonctionnalités telles que le contrôle de balayage linéaire, la synthèse de balayage, et le balayage d'images 3D. L'outil est équipé d'une caméra haute résolution et d'un étage de mesure de précision. Le sous-système optique permet la mesure en plein champ des plaquettes dans un large éventail d'applications. TENCOR RS 75 fournit également des solutions d'outillage flexibles pour des tests précis et la métrologie sur différents sites. Le modèle est contrôlé par le logiciel PROMETRIX RS-75 basé sur Windows. Ce logiciel est conçu pour permettre une analyse facile des données à partir des mesures. Il permet également de configurer et de calibrer efficacement les fonctions de balayage, et fournit une interface utilisateur graphique complète pour le contrôle complet des processus et l'acquisition de données. RS-75 dispose de la technologie de balayage 3D la plus récente, permettant une grande vitesse et précision. Il propose également diverses stratégies de balayage et de multiples options de mesure. TENCOR RS75 fournit également des réponses précises et fiables en matière de tri. KLA/TENCOR/PROMETRIX RS 75 est la première du genre et offre des performances et une fiabilité élevées, tout en fournissant une solution économique et rentable pour les essais de semi-conducteurs et la métrologie. Il peut être utilisé pour mesurer une variété de paramètres, y compris la constante diélectrique, la contrainte résiduelle, l'épaisseur de la couche, la teneur en vide et la rugosité de surface. TENCOR RS-75 Wafer Testing and Metrology Equipment est un système de test et de métrologie fiable et innovant.
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