Occasion KLA / TENCOR / PROMETRIX SM 150C #9112579 à vendre en France

KLA/TENCOR/PROMETRIX SM 150C est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes haut de gamme conçu pour fournir un contrôle des processus et un aperçu analytique des processus complexes avec un débit maximal. Parmi ses caractéristiques, KLA SM 150C est équipé d'un système d'imagerie spécialisé qui capture des images haute résolution des caractéristiques de surface 2D et 3D de la plaquette, permettant une analyse approfondie pour détecter les anomalies, les défauts et les irrégularités. Le traitement embarqué et les algorithmes intelligents supportent des capacités de métrologie avancées, y compris la détection automatisée des défauts et le dimensionnement des particules. L'unité dispose également d'un étage X-Y motorisé de haute précision, sur lequel les plaquettes résident pendant l'imagerie et les tests. TENCOR SM 150C fait partie de la famille Smartscan avec précision et répétabilité assurée par l'optique active, une machine à autofocus laser et la reconnaissance de motifs optiques. Cet outil a la flexibilité nécessaire pour s'adapter à un large éventail de substrats, de capteurs et de types d'échantillons. Les mesures de hauteur sont effectuées grâce à sa technologie de détection confocale avancée et ses outils logiciels complets qui prennent en charge le profilage des substrats et les fonctions avancées de contrôle des rendements. Faisant partie de la famille Smartscan, PROMETRIX SM 150C peut s'intégrer à d'autres outils de métrologie de niveau wafer. SM 150C fournit une interface tactile conviviale pour améliorer la navigation et la convivialité, un logiciel basé sur des fenêtres pour contrôler les mesures et l'accès à des logiciels de métrologie en vente libre tels que SEMulator3D (microscopie électronique à balayage 3D) et Quaterx (auto-alignement basé sur GDS). Le modèle est optimisé pour fournir un débit rapide et une précision sous-nanométrique sans compromis pour un contrôle de processus très fiable. En outre, l'équipement offre flexibilité et évolutivité pour les configurations d'instruments simples et les arrangements de grappes. Le système KLA/TENCOR/PROMETRIX SM 150C est équipé de plusieurs fonctionnalités pour garantir une fonctionnalité et une valeur maximales, telles qu'une unité de vision avancée, la détection des fuites, la mesure de la planéité et le contrôle 24/7 du processus et du rendement. En outre, la machine offre des fonctionnalités étendues de protection des données, y compris une fonction d'instantané et d'inviolabilité. Soutenu par le service client leader de l'industrie de KLA, KLA SM 150C est l'un des systèmes de métrologie de wafer les plus avancés et les mieux arrondis pour le contrôle des processus et l'analyse. De la mesure des couches minces et de la métrologie des substrats au contrôle de la qualité et à l'analyse des défauts, TENCOR SM 150C fournit la qualité, la vitesse, la fiabilité et l'évolutivité pour supporter un large éventail d'applications de contrôle des processus et de métrologie.