Occasion KLA / TENCOR / PROMETRIX SM 300 #293766761 à vendre en France

KLA/TENCOR/PROMETRIX SM 300 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes haut de gamme conçu pour l'inspection et l'analyse des semi-conducteurs les plus précises. Capable de mesurer des structures semi-conductrices complexes et des dispositifs avec un niveau élevé de précision et de précision, le système est conçu pour analyser des dispositifs microélectroniques allant des petites résistances et des condensateurs aux dispositifs de mémoire à grande échelle, des circuits intégrés, et plus encore. KLA SM 300 utilise la technologie d'imagerie optique la plus avancée pour analyser et mesurer les structures semi-conductrices, fournissant une imagerie claire et détaillée avec une précision et une précision inégalées. Ceci est réalisé par l'unité de balayage 4-Axis très sensible qui permet la résolution des caractéristiques de surface jusqu'à 0,1 microns. La machine utilise également un algorithme propriétaire de détection de bord pour améliorer l'efficacité de la reconnaissance de bord et de la segmentation d'image. TENCOR SM 300 est équipé d'une puissante suite d'outils de métrologie et d'analyse. Il s'agit notamment d'un outil de métrologie coupé AL pour mesurer les structures à travers le silicium (TSV) et d'un outil de métrologie grand angle qui peut être utilisé pour analyser les structures d'interconnexion avancées, telles que la technologie de ventilation avancée (AFOT). Parmi les autres outils de métrologie et d'analyse, on peut citer l'imagerie photométrique et la capacité de comparaison de la die-to-die. PROMETRIX SM 300 est extrêmement flexible et peut être adapté aux applications spécifiques et aux besoins individuels. Par exemple, l'outil peut être configuré avec une variété d'optiques de balayage et de mesure pour fournir les données les plus précises pour les structures complexes des appareils et les technologies de pointe telles que les structures TSV. En outre, l'ensemble de l'actif est conçu pour être intégré à d'autres équipements et automatisation de laboratoire, ce qui le rend encore plus polyvalent et efficace. SM 300 est le choix idéal pour l'inspection et l'analyse avancées des semi-conducteurs. Avec son haut niveau de précision, de précision et de flexibilité, le modèle est capable de répondre aux exigences les plus exigeantes en matière d'essais de plaquettes et de métrologie.