Occasion KLA / TENCOR / PROMETRIX UV 1050 #9377287 à vendre en France

KLA/TENCOR/PROMETRIX UV 1050 est un équipement d'essai de plaquettes et de métrologie qui utilise des technologies d'imagerie ultraviolettes avancées (UV) pour évaluer les plaquettes semi-conductrices pour les défauts, les défauts et les non-uniformités. Le système combine une imagerie haute vitesse et précise avec une source de faible intensité lumineuse pour détecter les irrégularités minoro-pographiques sur l'ensemble de la plaquette. La principale composante d'imagerie de l'unité est une caméra d'imagerie numérique à champ plein 8x avec plage de grossissement contrôlée par le conducteur (de 3X à 40X). Il peut saisir des données de contour de surface et de bord pour identifier des caractéristiques de surface aussi petites que 0,5 micron de largeur. La caméra permet également l'imagerie couleur pour l'identification facile des fonctionnalités. De plus, la machine supporte la surveillance du processus en détectant automatiquement la présence de caractéristiques de surface sur le substrat de la plaquette. L'outil est doté d'une technologie d'imagerie UV en attente de brevet qui améliore la caractérisation des défauts et la résolution d'imagerie en améliorant le débit des plaquettes tout en réduisant les besoins en énergie lumineuse de 10 à 15 fois. L'actif d'imagerie UV fournit des informations sur l'analyse des plus petits défauts qui peuvent affecter les performances du dispositif semi-conducteur. Le modèle permet également aux utilisateurs d'effectuer diverses mesures de métrologie, y compris des mesures topographiques de l'uniformité des surfaces et des motifs, des mesures de résistance pour l'analyse des défaillances, des mesures d'uniformité des substrats et de la profondeur des rainures (pour comprendre les problèmes de conception). L'équipement comprend également une série de logiciels avancés pour l'analyse, la présentation et l'archivage des données. Les logiciels avancés sont conçus pour le traitement d'images numériques, la cartographie de surface 3D, l'examen des défauts, la comparaison des données et l'automatisation des inspections. Une interface graphique intuitive simplifie le fonctionnement de routine et la visualisation des données, permettant à l'utilisateur d'analyser et de présenter facilement les données. En résumé, KLA UV 1050 est un système de test et de métrologie de plaquettes très avancé qui intègre une technologie d'imagerie UV puissante dans un design compact. Il offre une imagerie de surface ultra haute résolution, des capacités améliorées de détection et de caractérisation des défauts, des applications de métrologie pour la surveillance des processus et des logiciels pour l'analyse, la présentation et le stockage des données. Cette unité est idéale pour les fabricants de semi-conducteurs qui ont besoin d'un outil puissant et fiable pour garantir des performances de qualité.