Occasion KLA / TENCOR / PROMETRIX UV 1050 #9402299 à vendre en France

KLA/TENCOR/PROMETRIX UV 1050 est un équipement d'essai et de métrologie des plaquettes de pointe spécialement conçu pour répondre aux exigences des industries des semi-conducteurs. Le système offre des capacités de caractérisation avancées, permettant à l'utilisateur d'analyser rapidement et avec précision les performances des circuits intégrés, des dispositifs photoniques, des MEMS et d'autres composants micro-électroniques. La haute vitesse, la haute précision et les tests non destructifs sont au cœur des performances inégalées de KLA UV 1050. En utilisant une source laser ultraviolette pour exciter des plaquettes dans la gamme 254-368 nanomètres, l'unité peut détecter de très petits défauts et effectuer les tests à des vitesses élevées. La machine fournit également une option d'imagerie pour permettre l'accès à des informations détaillées au niveau du circuit. Cela permet de détecter des défauts mineurs, qui seraient sinon indétectables. Grâce à cette option, les utilisateurs sont en mesure d'observer l'isolement des défauts, la cartographie des circuits et un large éventail d'autres fonctionnalités. L'outil comprend un outil de cartographie automatisé, qui permet de détecter des défauts locaux dans une zone donnée de la plaquette. De plus, le modèle comprend un balayage tridimensionnel de la surface qui peut fournir une analyse de la surface de la plaquette. Cela permet aux utilisateurs de visualiser la topographie et de déterminer les irrégularités qui nécessitent une enquête plus approfondie. Les capacités de métrologie de TENCOR UV-1050 ont été améliorées pour supporter une variété de types de mesure. Il s'agit notamment de mesures de dimensions critiques, de mesures de zones critiques et de mesures de superposition. L'équipement offre également des capacités d'analyse des défauts qui comprennent la détection, le calibrage et le classement des défauts, ainsi que l'examen des défauts. UV 1050 est capable de tests et de métrologie rapides et non destructifs. Il dispose d'une source laser ultraviolet très sensible, de capacités d'imagerie avancées et d'outils de cartographie automatisés. Ses capacités avancées lui permettent de mesurer et d'analyser rapidement les performances des circuits semi-conducteurs, en donnant à l'utilisateur une vue d'ensemble de leurs résultats. Le système est conçu pour répondre aux exigences strictes de l'industrie des semi-conducteurs, ce qui en fait un choix idéal pour ceux qui recherchent à la fois la vitesse et la précision.