Occasion KLA / TENCOR / PROMETRIX UV 1250SE #9095212 à vendre en France

KLA/TENCOR/PROMETRIX UV 1250SE (1250SE) est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes spécialement conçu pour les fabricants de semi-conducteurs. C'est un système très efficace et avancé qui peut fournir une adaptation rapide des plaquettes, ce qui en fait un outil précieux pour les industries nécessitant des performances et une précision élevées. Le 1250SE est une unité de test de plaquettes hautement modulaire et personnalisable. La machine automatisée de test et de métrologie est conçue pour révolutionner la fiabilité et le débit des tests de plaquettes. L'outil est un changement d'étape dans les performances des plaquettes, mesurant un large éventail de paramètres permettant une richesse d'informations à trier et à traiter avec précision et rapidité. Le 1250SE est conçu pour détecter une variété de défauts grâce à son optimisation des paramètres de mesure. L'actif permet aux utilisateurs de personnaliser chaque test à leur résultat souhaité, en identifiant les défauts tels que la matière étrangère, les contaminants, la topologie des lignes, la planéité, et plus encore. Le 1250SE utilise un modèle avancé d'optique des particules, qui permet aux utilisateurs d'analyser les défauts et les motifs de distorsion de diverses façons. Cela rend l'équipement unique à de nombreux autres modèles, car il permet un nombre accru de mesures dans la même quantité de temps. Le 1250SE permet également une analyse à jour des problèmes sophistiqués qui peuvent survenir avec les technologies de plaquettes actuelles. Le système peut détecter en même temps des débris de paticle, des fissures de couches minces, des bosses et des défauts de surface diélectriques. Cela est possible grâce à sa combinaison d'algorithmes d'auto-correction et d'analyse. Ces algorithmes fournissent aux utilisateurs une grande précision des résultats de mesure. En outre, le 1250SE est équipé d'un étage de précision à deux étages et d'une technologie d'imagerie à semi-conducteurs améliorée. Cette combinaison de fonctionnalités fournit d'excellentes capacités d'acquisition d'image pour faciliter le balayage des wafer et die de 2D, 3D, QFN, multicouche et CSP. L'étape de précision à deux étages facilite également l'inspection en haute résolution de l'ensemble de la filière et permet l'analyse des caractéristiques non plates. Le 1250SE est un choix idéal pour les fabricants de semi-conducteurs qui exigent des mesures fiables, précises et rapides. Le moteur optique puissant de l'unité, les capacités d'imagerie haut de gamme, les algorithmes de test avancés et l'étage de précision à deux étages en font un choix idéal pour toute application de test de plaquettes. Qu'il s'agisse de détecter des défauts à petite échelle ou des fonctionnalités à grande échelle, le 1250SE fournit à l'utilisateur des résultats fiables en quelques minutes.