Occasion KLA / TENCOR / PROMETRIX UV 1250SE #9220778 à vendre en France

Il semble que cet article a déjà été vendu. Consultez les produits similaires ci-dessous ou contactez-nous et notre équipe expérimentée le trouvera pour vous.

ID: 9220778
Taille de la plaquette: 8"
Style Vintage: 1995
Measurement system, 8" Hardware configuration: Main body: Patterned wafer thickness measurement, 8" wafer Install type: Stand-alone Source: XENON Arch lamp Handler: H2, 8" Robot & pre-aligner Straight type fingers Facilities: CDA: >100 PSi (1/4" Swagelock connection) Vacuum: >-25 inHg (1/4" Swagelock connection) (2) Systems / Handlers Peripherals: Floppy drive (1.44 MB), 3.5” Operating system: Windows NT Options: SE DBS SECSII Power & facilities: Power supply: 110 V, 1 Phase, 3 wire, 50/60 Hz 1995 vintage.
KLA/TENCOR/PROMETRIX UV 1250SE est un équipement conçu pour le test et la métrologie des plaquettes dans l'industrie des semi-conducteurs. Il est capable d'un large éventail de tâches d'analyse, telles que les inspections des réticules, la détection des défauts de haute résolution sur les plaquettes, la métrologie des dimensions critiques optiques (DCO) et les mesures de superposition. Le système est alimenté par une unité de projection laser à balayage rapide, qui offre des capacités de mesure haute résolution sur un grand champ de vision. La machine de projection laser crée un profil tridimensionnel de la plaquette qui est inspecté à l'aide d'une combinaison de traitement d'image automatisé et d'analyse statistique. L'outil est capable de détecter et de mesurer une variété de défauts sur la plaquette, y compris des défauts mécaniques tels que des rayures, et des défauts électriques tels que la sous-découpe et le pontage. KLA UV-1250SE dispose d'une technologie de pointe pour mesurer les OCD. Il utilise un étage 3 axes intégré qui peut déplacer la plaquette dans les deux directions x et y tout en conservant une précision de focalisation élevée. L'actif peut mesurer les dimensions x et y de la plaquette jusqu'à 0,5 microns de résolution. En outre, le modèle offre de puissantes capacités de mesure de superposition, qui peuvent mesurer la précision d'alignement des différentes couches sur une plaquette, et assurer la précision du processus d'assemblage. TENCOR UV 1250 SE dispose également d'une interface conviviale pour la collecte de données et le contrôle de l'équipement. Le système peut être programmé avec des paramètres et des recettes définis par l'utilisateur, et l'interface de contrôle offre une visualisation en temps réel des progrès de l'unité, permettant aux opérateurs d'effectuer des ajustements en temps opportun au besoin. De plus, la machine est facile à configurer et à calibrer, ce qui permet aux utilisateurs de passer rapidement d'une plaquette à l'autre sans avoir besoin de reconfigurer l'outil à chaque fois. Dans l'ensemble, PROMETRIX UV 1250 SE est un excellent atout pour le test et la métrologie des plaquettes dans l'industrie des semi-conducteurs. Il est doté d'une grande précision et résolution, d'une vitesse de traitement rapide et d'une interface conviviale, ce qui en fait un choix idéal pour garantir la fiabilité et la précision des produits semi-conducteurs.
Il n'y a pas encore de critiques