Occasion KLA / TENCOR Puma 9000 #9240145 à vendre en France
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ID: 9240145
Style Vintage: 2006
Darkfield inspection system
Module: User interface
Missing parts:
PC
(2) Boards
2006 vintage.
KLA/TENCOR Puma 9000 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes qui garantit une grande précision dans les essais et l'analyse des plaquettes semi-conductrices. C'est un système entièrement automatisé combinant le meilleur en matière de conception, de technologie et de performance pour une efficacité et une précision maximales. L'unité offre des tests de haute précision, cartographie et mesures qui peuvent être utilisés pour optimiser les performances des circuits intégrés et la connectivité. KLA Puma 9000 est livré avec une chambre de test de haute précision avec une machine optique spécialisée, y compris un grand champ de vision, qui permet une cartographie uniforme des plaquettes pour des résultats cohérents. Il fournit un environnement stable pour la mesure de petites caractéristiques, et est également intégré avec un algorithme profondément appris qui aide à assurer la détection et le diagnostic précis des défauts. En outre, TENCOR Puma 9000 comprend une solution brevetée de piquage d'image, qui permet de combiner électroniquement plusieurs images d'une même plaquette en une seule image composite. Cette technologie d'imagerie intégrée améliore considérablement la précision de l'analyse d'image, car les mesures de haute précision sont prises à partir de l'image complète de la plaquette. De plus, Puma 9000 intègre des logiciels de comptage de pixels de plus en plus puissants, capables de compter des pixels, des numérisations de lignes répétables et d'autres fonctionnalités d'appareils de moins de 5 microns. Il peut détecter des caractéristiques aussi petites que 0,3 micron, et aussi reconnaître des motifs. Cela garantit que les dispositifs sont analysés avec précision et permet des mesures avancées qui sont critiques dans la production de semi-conducteurs. En résumé, KLA/TENCOR Puma 9000 est un outil de test et de métrologie des plaquettes de pointe qui fournit précision et précision lors de l'essai et de l'analyse des plaquettes semi-conductrices. Les fonctionnalités de Itd comprennent une chambre de test de haute précision, un algorithme profondément appris intégré et une technologie de piquage d'images, et un logiciel de comptage de pixels, avec des capacités de détection de fonctionnalités aussi petites que 0,3 micron. L'atout est idéal pour obtenir un maximum d'efficacité et de précision, afin d'optimiser les performances des circuits intégrés et la connectivité.
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