Occasion KLA / TENCOR Puma 9120 #293659319 à vendre en France

KLA/TENCOR Puma 9120 est un équipement d'essai et de métrologie de wafer de pointe qui permet la fabrication et l'inspection de semi-conducteurs de haute précision. Ce système est capable d'inspecter à la fois des dispositifs semi-conducteurs avancés tels que des microprocesseurs, des mémoires et des processeurs d'applications mobiles ainsi que des composants de niveau de production tels que des résistances, des diodes et des transistors. KLA Puma 9120 est équipé d'une unité optique avancée et de têtes de balayage doubles, lui permettant de collecter des images haute résolution des caractéristiques des plaquettes. Il dispose d'une technique de reconstruction topographique en quatre étapes, associée à un logiciel automatisé de classification des défauts, pour fournir un examen automatisé en profondeur des données d'essai des plaquettes. La machine est capable de détecter et de localiser des défauts aussi petits que 10 nanomètres, et fournit des statistiques complètes sur chaque défaut. L'outil utilise plusieurs algorithmes propriétaires, dont le traitement de topographie de plaquettes 3D, l'imagerie interférentielle multi-longueurs d'onde (MWIP), et le rétroéclairage dynamique, pour assurer le plus haut niveau de contrôle de rendement et de précision d'inspection. TENCOR Puma 9120 est conçu avec un atout d'alignement co-axial intégré. De plus, il est conçu pour supporter une variété de tailles de plaquettes, y compris des plaquettes de 200 mm et 300 mm, ainsi que pour gérer les épaisseurs des plaquettes jusqu'à 6mm. Puma 9120 offre également un certain nombre d'avantages en matière de santé et de sécurité, tels que de faibles niveaux de vibration, de larges plages de température et un environnement peu bruyant et résistant à la poussière. L'équipement peut également être utilisé pour l'inspection d'échantillons liquides et gazeux. Dans l'ensemble, KLA/TENCOR Puma 9120 est un système d'essai et de métrologie de plaquettes de pointe idéal pour la fabrication et l'inspection de semi-conducteurs. Il est doté d'une optique avancée et de têtes de balayage doubles, d'un traitement topographique 3D des plaquettes, d'une imagerie interférentielle multi-longueurs d'onde, d'un rétroéclairage dynamique et d'une unité d'alignement coaxiale pour assurer le plus haut niveau de précision et de contrôle des rendements. De plus, il offre un certain nombre d'avantages en matière de santé et de sécurité, démontrant qu'il convient à l'inspection des échantillons liquides et gazeux.