Occasion KLA / TENCOR Puma 9130 #9398548 à vendre en France

KLA/TENCOR Puma 9130 est un équipement de métrologie de précision et d'essai de plaquettes conçu pour l'essai et la métrologie de plaquettes au niveau de la production. Le système est capable de mesures et de tests très précis des plaquettes avec une précision typique de 1,2 nm. L'unité est capable de mesurer plusieurs configurations de plaquettes et peut scanner jusqu'à six pouces de diamètre. KLA Puma 9130 est une machine entièrement automatisée qui permet aux utilisateurs d'analyser, d'inspecter, de diagnostiquer et de réparer rapidement et avec précision les plaquettes et puces semi-conductrices. TENCOR Puma 9130 dispose d'une plateforme logicielle propriétaire, permettant aux utilisateurs de configurer et de contrôler tous les aspects des opérations de l'outil. L'atout est alimenté par une caméra microscopique optique à 12 canaux et un modèle de mouvement à trois axes qui fournit une imagerie haute résolution, permettant des mesures précises et l'analyse des caractéristiques des plaquettes. Puma 9130 dispose d'un équipement de traitement d'image haute résolution pour obtenir des données à partir d'images. Ce système peut être utilisé pour détecter, mesurer et analyser les caractéristiques des plaquettes telles que la dimension critique, la largeur des lignes, le placement des bords et l'activité de forme. L'unité fournit également la cartographie des plaquettes pour permettre des mesures précises des puces semi-conductrices. La machine est également équipée d'un outil automatisé de détection des défauts au niveau de la production. Cet actif utilise une séquence d'opérations de traitement d'image pour détecter des défauts tels que des lignes brisées, des vias ouverts, des bosses manquantes et divers autres défauts. En outre, KLA/TENCOR Puma 9130 comprend un ensemble d'outils d'analyse d'images qui permet une analyse précise des données des images. Cela comprend la détection des caractéristiques des semi-conducteurs à haute résolution, l'analyse des défauts au niveau des plaquettes, les contours des motifs et les profils de surface, et les cartes de métrologie de haut niveau. Cela permet aux utilisateurs d'obtenir des mesures précises des dimensions critiques et des formes des caractéristiques des plaquettes. Dans l'ensemble, KLA Puma 9130 est un modèle d'essai et de métrologie de wafer au niveau de la production qui permet une analyse et une inspection précises des wafers semi-conducteurs. L'équipement dispose de capacités de traitement d'image haute résolution, de détection de défauts, d'analyse d'image et de cartographie métrologique, permettant aux utilisateurs d'obtenir des données très précises à partir de plaquettes. Cela fait du système un choix idéal pour les essais et la métrologie des plaquettes au niveau de la production.