Occasion KLA / TENCOR Puma 9150 #293606942 à vendre en France

KLA/TENCOR Puma 9150 Wafer Testing and Metrology Equipment est une plate-forme de métrologie qui offre un contrôle complet, précis et fiable des processus semi-conducteurs et l'analyse des défauts. Tirant parti d'une gamme de technologies de métrologie avancées, y compris la scatterométrie, l'AFM et d'autres méthodes optiques, la plate-forme KLA Puma 9150 offre une capacité puissante et intégrée de contrôle des processus et d'analyse des défauts. Le système TENCOR Puma 9150 permet de contrôler le processus en mesurant avec précision les dimensions critiques d'un appareil pendant la fabrication. C'est une caractéristique qui permet de s'assurer que chacune des étapes successives du processus est effectuée correctement. Avec Puma 9150, les ingénieurs et les scientifiques peuvent surveiller la surface complexe et les caractéristiques morphologiques et l'épaisseur de la couche locale de chaque appareil qu'ils fabriquent dans un processus de production. L'unité KLA/TENCOR Puma 9150 est spécialement conçue pour répondre aux exigences rigoureuses de l'analyse des processus et des défauts. La machine dispose de six axes réglables et de deux axes de mouvement perpendiculaires et est chargée de capteurs avancés tels qu'un scatteromètre multi-points qui peut mesurer plusieurs points sur la plaquette à la fois, un scan-by-spot scatteromètre avec une résolution de 200nm, un microscope électronique à balayage avec une résolution de 5nm, et un faisceau ionique focalisé automatisé (FIB). Tous ces capteurs permettent d'effectuer des mesures optiques et électriques à haute résolution. L'outil KLA Puma 9150 est intégré à une puissante suite de logiciels de contrôle des processus et d'analyse des défauts conçus pour répondre aux normes de qualité les plus élevées. Le logiciel est capable d'effectuer toute une série de tâches de traitement, de la simple surveillance et visualisation des données au traitement complexe des images, en passant par l'extraction de fonctionnalités et l'analyse statistique. L'actif TENCOR Puma 9150 fournit des résultats de métrologie rapides et précis qui conviennent à un contrôle statistique fiable des processus. Le modèle intégré fournit une plateforme puissante pour prédire les paramètres de rendement et de qualité de Wafer. Grâce à sa gamme diversifiée de capteurs, l'équipement Puma 9150 détecte et corrige avec précision les défauts éventuels au cours du processus de fabrication, en s'assurant que les performances et le rendement de l'appareil sont optimisés tout au long du processus de production. Dans l'ensemble, KLA/TENCOR Puma 9150 Wafer Testing and Metrology System est une plateforme efficace qui offre un contrôle complet et précis des processus et l'analyse des défauts. Sa technologie de métrologie avancée et sa puissante suite logicielle offrent une solution fiable et fiable pour surveiller et optimiser la fabrication des plaquettes.