Occasion KLA / TENCOR Puma2 #9270982 à vendre en France

L'équipement KLA/TENCOR Puma2 Wafer Testing and Metrology est un système haut de gamme pour l'inspection et l'évaluation de la microstructure de wafers utilisée dans la fabrication de dispositifs de circuits intégrés. Il intègre des capacités optiques et d'imagerie avancées pour permettre la détection des caractéristiques, des défauts et de la contamination sur les plaquettes IC de plus en plus complexes et très emballées. L'unité KLA Puma2 comprend deux sous-systèmes d'imagerie de pointe dotés d'une technologie d'imagerie adaptative automatisée, deux sous-systèmes de traitement d'images à haute résolution et deux sous-systèmes de métrologie intelligente qui fournissent des capacités de test et de métrologie des plaquettes de précision. La technologie d'imagerie adaptative automatisée permet à TENCOR Puma2 de personnaliser son imagerie optique pour chaque plaquette. Cette personnalisation apporte une résolution d'image sans précédent, conduisant à une meilleure détection et rendement des défauts. Les deux sous-systèmes de traitement d'images, équipés d'algorithmes logiciels spécialisés, permettent l'identification, la quantification et l'analyse des caractéristiques des plaquettes, ce qui permet à la machine de fournir une rétroaction détaillée sur diverses caractéristiques des plaquettes. Les sous-systèmes de métrologie automatisée fournissent également des mesures précises et précises. Ces traits permettent à l'outil Puma2 de découvrir et identifier des particules de sous-micron et des traits qui seraient autrement des systèmes reflétants conventionnels utilisants non détectables. En outre, l'actif dispose en outre de multiples outils d'analyse de données conviviaux ainsi que d'un soutien pour l'archivage d'images et de larges capacités de rapport. Son interface graphique conviviale simplifie la navigation, accélère ainsi le temps de formation et facilite le contrôle de la qualité. Enfin, KLA/TENCOR Puma2 est conforme aux normes de l'industrie, telles que SEMI, ISMI, IT6-D, ESD et E-Ray, et s'intègre pleinement à d'autres fablines pour faciliter l'échange continu de données entre le modèle et d'autres outils de support. Cette intégration de l'ensemble d'outils permet une analyse prédictive et en temps réel de la qualité des plaquettes et assure un rendement maximal en production.