Occasion KLA / TENCOR RS-55TCA #9245519 à vendre en France

KLA / TENCOR RS-55TCA
ID: 9245519
Resistivity mapping system SMIF.
KLA/TENCOR RS-55TCA est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour fournir des solutions d'analyse avancées et complètes pour les processus de fabrication de semi-conducteurs les plus exigeants d'aujourd'hui. Avec ses systèmes automatisés d'alignement et de manutention robotique, il peut relever le défi d'inspecter des centaines de plaquettes en un seul lot. KLA RS55TCA est capable de mesurer jusqu'à 8200 points par plaquette sur toute sa surface. Le système est équipé d'une unité d'alignement cinq axes motorisée, entièrement automatisée et capable d'une plus grande précision que de nombreux autres systèmes actuellement disponibles. Il est capable de mesurer avec précision des plaquettes de dimensions allant jusqu'à 200mm de diamètre, ainsi que des plaquettes de toutes épaisseurs allant de 200mm à 500mm. De plus, la machine est capable de mesurer une large gamme de propriétés de plaquettes, y compris l'épaisseur, la planéité, la tension superficielle et les propriétés électriques. TENCOR RS-55 TCA comprend également une variété d'outils de métrologie avancés, comme sa fonction BandViewer qui permet une analyse avancée des plaquettes en comparant plusieurs plaquettes en temps réel. En outre, il offre plusieurs fonctionnalités avancées, comme un outil informatique embarqué, qui peut stocker jusqu'à 4 Go de données avec jusqu'à 25 000 enregistrements de test. Il est également capable de créer des programmes de mesure personnalisés et fournit une interface utilisateur graphique pour une mise en oeuvre aisée de ces programmes. KLA RS 55 TCA comprend également une fonction d'assurance qualité unique qui est conçue pour garantir la précision des mesures effectuées. Il dispose également d'une option de numérisation à haute vitesse qui permet des temps de traitement plus rapides et aide à minimiser tout temps d'arrêt de processus. KLA/TENCOR RS 55 TCA est un outil de test et de métrologie des plaquettes très polyvalent et avancé qui est capable de fournir des informations sur les processus critiques pour optimiser davantage le rendement et réduire les coûts. Il dispose d'une variété de fonctionnalités et est conçu pour fournir une grande précision et précision dans les essais afin de fournir des données et des résultats fiables.
Il n'y a pas encore de critiques