Occasion KLA / TENCOR SFS 6200 #9083816 à vendre en France

KLA / TENCOR SFS 6200
ID: 9083816
Particle counter systems.
KLA/TENCOR SFS 6200 est un équipement d'essai et de métrologie de nouvelle génération conçu pour l'industrie des semi-conducteurs. Il offre une analyse ultra-précise et un débit rapide pour une production efficace et fiable. Le système est capable de tester des substrats, de caractériser des surfaces, d'inspecter des modèles et de métrologie, ainsi que d'extraire des données et de caractériser la géométrie des plaquettes. Il est également capable de contrôler et de réglementer les processus. L'appareil présente un balayage optique haute vitesse et haute précision, permettant jusqu'à 16 micromètres de déplacement dans la gamme des plaquettes de 8 pouces et 12 pouces. Le détecteur optique à haute sensibilité de la machine fournit des mesures rapides et précises, assurant des résultats de test précis et sans erreur. Pour assurer l'intégrité des plaquettes et une rugosité de surface supérieure, les résultats mesurés sont corrélés à un micromètre près. L'outil est équipé de trois caméras, deux avec des étages linéaires et un avec un faisceau libre. Ceci offre un balayage de surface efficace et polyvalent, avec des mesures et la détection dans le plan X et Y. Les étages linéaires permettent un déplacement précis dans les deux plans, ce qui permet de mesurer avec une grande précision les caractéristiques de la surface de l'échantillon telles que les bosses, les fosses, les rayures, les surfaces déformées et les défauts. KLA SFS 6200 utilise une combinaison d'optique avancée, de mouvement, de logiciel et d'électronique pour des performances supérieures et une précision supérieure à 1 sigma. Il utilise également des algorithmes innovants pour collecter des données de surface, en maximisant les informations disponibles dans chaque plaquette. Dans l'ensemble, TENCOR SFS6200 est un atout puissant et polyvalent en matière de tests et de métrologie qui offre un débit supérieur et une précision ultime. Il est capable d'analyse et de caractérisation de surface, offrant des performances, une vitesse et une efficacité supérieures dans la production de semi-conducteurs.
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