Occasion KLA / TENCOR SFS 6420 #293755921 à vendre en France

KLA/TENCOR SFS 6420 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes et est considéré comme la norme de l'industrie dans la fabrication de semi-conducteurs. Ce système d'essai et de métrologie des plaquettes est capable d'effectuer de multiples essais, tels que l'inspection optique, la planarisation mécanique chimique (CMP), la détection des bords, le contour, la détection des motifs, la mesure de la largeur des lignes et l'analyse focale/défocale sur des plaquettes aussi petites que 100 mm et aussi grandes que 200 mm et 300 mm. KLA SFS 6420 se compose de composants matériels et logiciels. Les composants matériels comprennent des étages de plaquettes et des têtes d'inspection, des interféromètres laser, des capteurs de déplacement laser, des étages porteurs d'air et des systèmes d'alignement de précision. En outre, il existe plusieurs caméras et sources lumineuses. Les composants du logiciel comprennent une suite d'analyse d'image, une unité d'examen des défauts et un moteur d'alignement. TENCOR SFS 6420 présente une grande variété de caractéristiques et d'avantages qui le rendent avantageux pour les fabricants de semi-conducteurs. Les combinaisons caméra et source lumineuse de la machine permettent de détecter les défauts critiques sur les petites plaquettes, tandis que l'outil d'alignement de précision garantit que les plaquettes sont parfaitement alignées et adaptées pour le contrôle des défauts. SFS 6420 intègre plusieurs technologies d'inspection pour permettre une détection précise et rapide des défauts. En combinant l'imagerie de surface des plaquettes avec l'interférométrie laser, l'imagerie infrarouge, la réflectivité dépendante de l'angle et les algorithmes avancés de reconnaissance des motifs, l'actif est capable de détecter des défauts dans différents types de surfaces semi-conductrices. KLA/TENCOR SFS 6420 est conçu pour fournir des résultats rapides et précis dans l'inspection manuelle ou automatisée des plaquettes et la métrologie. Le modèle utilise plusieurs capteurs de température pour s'assurer de la précision des résultats, et il peut détecter des défauts jusqu'à un nanomètre de taille. Il dispose également de capacités logicielles avancées qui surveillent les fausses alarmes. En outre, KLA SFS 6420 est conçu pour être sans entretien, ce qui lui permet de fonctionner avec un maximum d'efficacité. TENCOR SFS 6420 wafer testing and metrology equipment est la norme de l'industrie pour l'inspection et la mesure des wafers utilisés dans la fabrication de produits semi-conducteurs. Il combine des composants matériels et logiciels avec des capacités avancées de détection des défauts, des systèmes d'alignement de précision et des capteurs thermiques, permettant d'obtenir des résultats précis et fiables en temps opportun.