Occasion KLA / TENCOR SFS 7200 #9200112 à vendre en France
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KLA/TENCOR SFS 7200 est un équipement d'essai et de métrologie des plaquettes de précision qui intègre une gamme de technologies avancées d'essai et de métrologie des plaquettes. Ce système fournit des mesures de précision et de précision sur une grande variété de types de plaquettes semi-conductrices. La conception utilise l'identification de motifs, l'imagerie thermique et l'inspection optique automatisée à haute résolution, ainsi que l'analyse d'images pour mesurer avec précision les données détaillées provenant de puces sur une surface de plaquettes. La KLA SFS 7200 offre un ensemble puissant de capacités nécessaires pour évaluer les performances avancées des semi-conducteurs. Sa technologie de palpage des plaquettes est soutenue par une unité d'inspection avancée qui peut mesurer une variété de caractéristiques électriques, telles que la fuite de courant et la résistance. Les caractéristiques de performance et de métrologie comprennent la mesure de la tension de coupure, la photo-détection automatisée, la détection des contacts et les mesures de planéité. TENCOR SFS7200 est capable de manipuler plusieurs substrats de plaquettes, y compris l'écran plat, le silicium sur saphir, le silicium sur carbure, le silicium sur isolant, l'optique et les plaquettes métallisées. Ses systèmes avancés de traitement d'image localisent avec précision les caractéristiques de la matrice, telles que les évidements, les marches, les trous, les puits, les bosses, les canaux et d'autres caractéristiques sur une plaquette inspectée. KLA/TENCOR SFS7200 peut reconnaître le type de matériau, la géométrie et les caractéristiques électriques de la matrice en surface, et offre une analyse automatisée des données pour fournir un rapport détaillé des résultats des essais. Cette machine permet également aux ingénieurs de créer des routines de test personnalisées et d'analyser les résultats de dispositifs de pointe, leur permettant d'identifier rapidement les défauts et d'optimiser leur processus. SFS7200 peut être utilisé pour inspecter de nombreux matériaux, notamment le cuivre, l'aluminium, l'acier, le silicium polycristallin, les composés et les plaquettes d'arséniure de gallium. Cet outil intègre également des systèmes de commande intégrés pour ajuster avec précision l'axe optique de visualisation de la surface de la plaquette. Avec de telles fonctionnalités, TENCOR SFS 7200 peut vérifier les critères de performance avancée du processus. Globalement, KLA SFS7200 est un outil de test et de métrologie de plaquettes très fiable et précis avec une gamme de capacités de détection. C'est un outil efficace pour mesurer, diagnostiquer et caractériser les caractéristiques complexes des matrices semi-conductrices, permettant aux ingénieurs de rationaliser leurs processus et de produire les pièces de la plus haute qualité.
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