Occasion KLA / TENCOR SFS 7600 #293808150 à vendre en France

ID: 293808150
Style Vintage: 1996
Patterned wafer inspection system 1996 vintage.
KLA/TENCOR SFS 7600 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour des performances élevées dans une large gamme de fabriques et de fonderies de semi-conducteurs. Il est équipé d'une variété de solutions de fonctionnalités avancées, y compris l'inspection à plusieurs étapes, la cartographie des plaquettes haute densité, et la détection avancée des défauts. Le système est capable d'analyser des échantillons de formes et de tailles variées, jusqu'à des plaquettes complètes comprises. KLA SFS 7600 est conçu pour aider à l'inspection et à la mesure des circuits analogiques et numériques, ainsi que des dimensions physiques des matrices. L'unité est équipée d'un microscope optique qui permet aux utilisateurs d'inspecter des images à très haute résolution. La surface inspectable est de 300mm x 220mm et peut être agrandie avec l'utilisation de substrats supplémentaires. En outre, la machine peut être adaptée à diverses applications d'inspection complexes en incorporant une gamme d'accessoires haut de gamme tels que des jeux de filtres optiques, des techniques d'essai spécialisées, et un assortiment de sondes. TENCOR SFS7600 est également équipé de capacités de métrologie de pointe, permettant de mesurer avec précision les caractéristiques physiques de la surface de la plaquette. Cela inclut un alignement précis du mandrin et de la scène, ainsi qu'une solution d'autofocus sur mesure. L'outil est également capable d'effectuer des mesures en plusieurs étapes, permettant aux utilisateurs d'analyser les caractéristiques des couches enterrées et d'étudier des structures complexes telles que des mailles métalliques auto-organisatrices. De plus, l'actif peut être calibré, ce qui permet aux utilisateurs d'assurer des résultats exacts sur toute une gamme de conditions. Le modèle offre également une série de solutions automatisées d'examen des défauts qui peuvent être utilisées pour simplifier le processus d'inspection. L'équipement peut générer des rapports personnalisables, fournir des images graphiquement exactes des défauts, et isoler et stocker les données de défauts pour un examen ultérieur. En outre, SFS7600 dispose de multiples solutions d'analyse statistique, permettant aux utilisateurs d'identifier avec précision les tendances potentielles de réduction des rendements. Dans l'ensemble, KLA/TENCOR SFS7600 est un système polyvalent d'essai et de métrologie de plaquettes capable de fournir des données précises à la plus haute résolution. Sa combinaison de technologies de pointe, d'outils automatisés et de rapports personnalisables en font une solution précieuse pour les fabriques de semi-conducteurs et les fonderies.
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