Occasion KLA / TENCOR SFS 7600 #9137319 à vendre en France

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KLA / TENCOR SFS 7600
Vendu
ID: 9137319
Laser particle counter.
L'équipement KLA/TENCOR SFS 7600 de métrologie et de test des plaquettes est un outil très sophistiqué qui permet l'analyse et la caractérisation des matériaux semi-conducteurs. Il offre une gamme complète de capacités de métrologie et d'analyse pour faciliter la collecte de données et d'informations utiles. Le système offre une combinaison de capacités uniques telles que l'imagerie photométrique, la caractérisation avancée de surface et interfaciale, et la mesure des propriétés électriques des dispositifs semi-conducteurs. Pour ce faire, on utilise une combinaison de moteurs de balayage, de capteurs, de sources lumineuses et d'imagerie numérique. Grâce aux capacités combinées de l'unité, elle est en mesure de détecter la présence et la quantité de contaminants à la surface de la plaque, de détecter la présence et les propriétés des couches de films métalliques, de surveiller et de mesurer la présence et les propriétés des films diélectriques, de mesurer l'évolution de l'épaisseur de la couche et d'analyser les paramètres électriques. KLA SFS 7600 peut manipuler des plaquettes jusqu'à 4 "de diamètre et a la possibilité de configurer ses paramètres pour différents profils de test. Grâce à son design robuste, la machine offre une précision extrême et la capacité de résister aux conditions difficiles typiques des environnements industriels de fabrication de semi-conducteurs. En outre, l'outil est conforme aux exigences des techniques avancées de guidage et de manutention, ainsi qu'aux normes de qualité rigoureuses exigées par l'industrie. L'atout comprend une gamme de fonctionnalités qui lui permettent d'obtenir des performances supérieures dans la plaquette, y compris des capacités de contrôle multi-niveaux, auto-focus et centrage laser, traitement d'image numérique de haut niveau, et une suite d'interfaces logicielles intégrées. Cette gamme de caractéristiques, combinée à la capacité du modèle à détecter de petites tailles de défauts et des mesures répétables, permet à TENCOR SFS7600 de fournir des informations de qualité vitales au fabricant de semi-conducteurs. Les capacités de mesure et de métrologie avancées font de TENCOR SFS 7600 un atout inestimable pour l'industrie des semi-conducteurs, fournissant à la fabrication un outil puissant pour garantir une performance optimale des plaquettes et un contrôle de la qualité.
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