Occasion KLA / TENCOR SFS 7600 #9159253 à vendre en France

KLA/TENCOR SFS 7600 est un équipement d'essai et de métrologie de wafer de pointe. Il peut être utilisé pour le test et l'analyse des propriétés microstructure, électrique et thermique des plaquettes semi-conductrices. Le système comprend une série de modules, y compris des modules de mesure, d'analyse et de visualisation des données, qui peuvent être configurés selon les spécifications du client. L'unité comprend une interface utilisateur graphique (interface graphique) facile à utiliser pour les fonctions de l'opérateur, ainsi qu'une machine d'automatisation très efficace pour le transfert et le contrôle des données. L'outil fournit également une bibliothèque puissante d'algorithmes de mesure et d'analyse pour permettre aux utilisateurs non experts d'effectuer des tests de métrologie et des opérations d'analyse rapidement et avec précision. Tous ces modules sont conçus pour être performants à des niveaux élevés de précision et de cohérence, ce qui en fait un choix idéal pour les professionnels de l'assurance qualité dans l'industrie des semi-conducteurs. La norme KLA SFS 7600 intègre plusieurs instruments de métrologie à contact et sans contact, tels que les AFM, les microscopes optiques et les systèmes d'imagerie FTIR. Il peut mesurer une large gamme de tailles de plaquettes, de 200mm à 10 cm, avec une précision maximale de 0,5 nm. L'actif dispose également d'une gamme de capteurs intégrés, y compris la température, l'humidité et l'inclinaison, pour surveiller l'environnement du processus de mesure. En plus de ces fonctionnalités, TENCOR SFS7600 dispose d'une variété d'outils d'acquisition de données et de modules logiciels tels que SmartQC et SmartAlign. Le module SmartQC automatise la mesure des paramètres essentiels de métrologie, tandis que le module SmartAlign simplifie le processus d'alignement des plaquettes avant les tests. Le modèle comprend également des options puissantes pour l'analyse et la visualisation des données. Il peut générer des images 2D ou 3D avec diverses mesures telles que la taille des grains, la distribution des particules et la texture de surface. Dans l'ensemble, SFS7600 est un équipement avancé d'essai de plaquettes et de métrologie conçu pour la précision et l'assurance de la qualité. Il fournit un large éventail d'instruments et d'outils qui peuvent être utilisés pour mesurer et analyser une variété de caractéristiques des plaquettes semi-conductrices, ainsi que pour gérer, analyser et visualiser les résultats. Le système est également facile à utiliser et adaptable aux besoins individuels des clients, ce qui en fait un choix idéal pour les professionnels de l'industrie des semi-conducteurs.