Occasion KLA / TENCOR SFS 7700 #9134040 à vendre en France

KLA/TENCOR SFS 7700 est un équipement d'essai et de métrologie des plaquettes de haute précision qui offre une précision, une vitesse et une fiabilité inégalées pour produire des résultats cohérents au niveau des plaquettes pour une caractérisation avancée des appareils. La capacité de KLA SFS 7700 à mesurer une grande variété de paramètres sur des plaquettes à couches minces et épaisses à une seule station de test permet d'augmenter le débit et d'améliorer les rendements de production. TENCOR SFS 7700 est alimenté par des logiciels exclusifs et étroitement intégrés conçus spécifiquement pour les tests de plaquettes et les applications de métrologie. L'analyse avancée des plaquettes et les capacités d'amélioration des rendements des modules logiciels avancés permettent aux utilisateurs d'identifier rapidement de petites variations dans les performances et la fiabilité des plaquettes et d'optimiser les processus de production pour tirer parti des données. La capacité de SFS 7700 à mesurer avec précision une grande variété de paramètres de wafer in situ permet aux utilisateurs de saisir rapidement des données précises au niveau des wafers et des appareils avec un débit plus élevé, une précision peu coûteuse et un débit amélioré que les autres systèmes d'essai et de métrologie. Grâce à son système avancé de gestion automatisée des inspections (AIM), les utilisateurs peuvent établir et stocker automatiquement jusqu'à 10 recettes pour un rappel facile et un fonctionnement automatisé. KLA/TENCOR SFS 7700 offre des performances de percée à un prix compétitif avec un fonctionnement intuitif et simple pour un démarrage plus rapide avec des résultats reproductibles. Le Scanning Electron Microscope fournit aux utilisateurs une large gamme de capacités automatisées pour une opération facile à utiliser, clé en main. De plus, la machine offre une fonction configurable d'analyse de contour de classe supérieure qui permet de mesurer les caractéristiques à l'échelle nanométrique avec une précision de 5nm. La KLA SFS 7700 redéfinit les normes de l'industrie pour les essais de plaquettes et la métrologie avec son infrastructure renforcée et intégrée, offrant aux utilisateurs un niveau de contrôle, de flexibilité et de précision sans précédent. Grâce à l'amélioration de la collecte de données, à la prise en charge d'un plus grand parallélisme, à l'optimisation de l'ordonnancement et plus encore, les utilisateurs ont désormais le pouvoir de cerner la cause profonde d'un problème avec la précision du point de repère.