Occasion KLA / TENCOR SFS 7700 #9158752 à vendre en France

L'équipement KLA/TENCOR SFS 7700 Wafer Testing and Metrology est l'une des solutions leader de l'industrie pour l'inspection et la métrologie des wafers. KLA SFS 7700 est un système d'imagerie multi-capteurs haute performance optimisé pour l'analyse à haut débit des structures critiques des appareils. L'unité peut être utilisée pour divers types d'échantillons, y compris des substrats de plaquettes, des plaquettes SOI, des jetons, des dispositifs MEMS et TFT. TENCOR SFS 7700 intègre une plateforme d'imagerie multimodale composée de technologies visuelles et spectroscopiques de pointe. Le mode d'imagerie visuelle comprend les CCD couleur et le champ lumineux, le champ sombre et le déphasage. Le mode d'imagerie spectroscopique comprend la fluorescence hors axe, la spectrophotométrie, l'imagerie à vie, la spectroscopie d'imagerie et le spectromètre proche infrarouge. La machine offre également un large éventail de capacités analytiques, y compris l'analyse des erreurs, la détection des défauts, la métrologie de superposition, le dimensionnement des caractéristiques, le réglage des foyers et l'analyse des particules. SFS 7700 est alimenté par la suite logicielle d'automatisation SOPROLAB-Bio. Ce logiciel offre une gestion complète de la préparation des échantillons, de l'imagerie, de l'analyse et du transfert de données en contrôlant plusieurs capteurs et dispositifs. Il aide également à garantir des données exactes et répétables en optimisant les dosages des ingrédients, l'orientation du substrat et les niveaux de coloration. L'outil est conçu pour une production à haut volume et est capable de répondre aux exigences de débit les plus exigeantes. La plate-forme est également très configurable, permettant une mise à niveau facile et l'expansion future. Grâce à ses solutions ingénieuses, sa riche gamme de logiciels et ses technologies de pointe, KLA/TENCOR SFS 7700 offre une vitesse et une précision inégalées pour les essais de plaquettes et la métrologie.