Occasion KLA / TENCOR SFS 7700 #9390450 à vendre en France

KLA / TENCOR SFS 7700
ID: 9390450
Particle inspection system.
KLA/TENCOR SFS 7700 est un équipement avancé d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour visualiser, surveiller, tester et mesurer les caractéristiques électriques des plaquettes à semi-conducteurs. Il se caractérise par son débit élevé, sa précision, sa sensibilité et sa fiabilité, et est construit avec des composants logiciels et matériels de pointe qui lui permettent de fournir des mesures précises répondant aux exigences des principaux fabricants de semi-conducteurs. KLA SFS 7700 dispose d'un réseau bidimensionnel de capteurs, intégré dans une table de mouvement stabilisée dynamiquement, qui peut balayer précisément toute la surface de la plaquette. L'appareil est équipé d'une optique de focalisation de lumière structurée automatisée qui lui permet de capturer des images ultra-haute résolution, lui permettant de mesurer les caractéristiques électriques jusqu'au niveau de précision du nanomètre. De plus, le noyau de traitement d'imagerie embarqué (CIP) fournit un traitement et une analyse en temps réel, permettant une mesure et une rétroaction rapides. L'une des caractéristiques les plus impressionnantes de TENCOR SFS 7700 est son gestionnaire de logiciel, qui permet au système de se configurer automatiquement pour différents besoins et applications clients. Le gestionnaire de logiciel peut facilement détecter le type de plaquettes que l'unité analyse et ajuster instantanément les paramètres de la machine pour s'assurer que les mesures les plus précises sont acquises. La combinaison d'optique avancée, de capteurs et de logiciels sophistiqués permet à SFS 7700 de fournir aux fabricants des mesures extrêmement détaillées, essentielles pour les exigences de production exigeantes des dispositifs semi-conducteurs. L'outil offre des options sophistiquées de collecte, d'analyse et de visualisation de données, et son interface utilisateur intuitive le rend simple à utiliser et à utiliser. Le plateau motorisé à double axe, quant à lui, augmente à la fois l'efficacité et la précision, permettant au dispositif de balayer rapidement et de fournir une analyse détaillée de plusieurs plaquettes en succession rapide, tandis que sa mémoire extensible et de vastes options d'entrée/sortie lui donnent la flexibilité pour accueillir pratiquement n'importe quelle conception. Bref, le KLA/TENCOR SFS 7700 est un outil de test et de métrologie des plaquettes très avancé, capable de répondre même aux exigences les plus strictes des fabricants de semi-conducteurs. Sa combinaison de composants matériels et logiciels de pointe, combinée à son gestionnaire logiciel unique, offre un niveau inégalé de précision, d'efficacité et de fiabilité et est le choix idéal pour ceux qui cherchent à mesurer avec précision les caractéristiques électriques des plaquettes semi-conductrices.
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