Occasion KLA / TENCOR SFX 100 #293630198 à vendre en France

KLA / TENCOR SFX 100
ID: 293630198
Style Vintage: 2004
Thickness measurement system 2004 vintage.
KLA/TENCOR SFX 100 est un équipement automatisé, d'essai de plaquettes et de métrologie qui utilise des technologies optiques et d'imagerie avancées pour assurer la qualité des semi-conducteurs utilisés dans les dispositifs semi-conducteurs de haute performance. Il fournit une analyse tridimensionnelle (3D) précise de la topographie de surface des plaquettes, fournissant des données sur les défauts, les propriétés des matériaux, l'épaisseur du film, les non-uniformités, et d'autres caractéristiques. Il utilise des classes avancées sophistiquées d'algorithmes pour identifier et classer les défauts à l'échelle du nanomètre. Le système est doté d'un détecteur ultramoderne hautement sensible et d'une large gamme de technologies de lentilles et de réseaux, ce qui lui permet de mesurer les dimensions et les profils des caractéristiques sur une grande variété de surfaces de matériaux. En outre, son ensemble d'outils propriétaires combine du matériel puissant avec des logiciels avancés pour garantir des résultats précis. L'unité peut scanner des échantillons avec deux faisceaux laser distincts fonctionnant à des longueurs d'onde différentes. Les lasers permettent un degré de précision beaucoup plus élevé que précédemment disponible, ce qui le rend idéal pour l'analyse des défauts des plaquettes, la métrologie des défauts et la cartographie topographique. Ses algorithmes avancés permettent de détecter et de classer les défauts jusqu'au niveau du nanomètre, ce qui est nettement meilleur que de nombreux autres systèmes. KLA SFX 100 offre également une suite de capacités idéales pour la métrologie dans une variété d'autres industries telles que les marchés de la médecine et du stockage de données. La machine est construite avec une interface graphique et des outils intuitifs pour la collecte, l'analyse et le reporting de données. L'enregistreur de données intégré et les outils de génération de rapports permettent aux utilisateurs de préparer rapidement et facilement des rapports pour des mesures correctives. Cette fonctionnalité comprend également des fonctions de rapport automatisé et de téléchargement des résultats. De plus, les utilisateurs peuvent profiter des capacités d'analyse avancées intégrées de l'outil, y compris l'auto-alignement, la sélection de zones limitées et l'imagerie à plusieurs couches de scan. TENCOR SFX 100 est un atout très fiable qui permet d'assurer un excellent rendement, la fonctionnalité de l'appareil, et la fiabilité à long terme dans les produits semi-conducteurs de haute performance.
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