Occasion KLA / TENCOR SFX 100 #9351463 à vendre en France

KLA/TENCOR SFX 100 wafer testing and metrology equipment est une plate-forme de nouvelle génération spécialement conçue pour permettre les tests, l'inspection et les processus de métrologie. Le système utilise l'optique adaptative, le contrôle de mouvement à 5 axes, des algorithmes automatisés de reconnaissance de motifs et des capteurs à grande vitesse pour permettre la mesure de précision des circuits intégrés et des composants opto-électroniques. KLA SFX 100 peut mesurer différents types de signaux électriques et optiques, y compris les couches Si/SiO2, la ligne/l'espace, les formes d'isolement, et les tailles de caractéristiques. L'unité peut détecter et corriger les aberrations et afficher les variations de surface avec une répétabilité et une précision exceptionnelles. L'optique adaptative et la commande de mouvement de TENCOR SFX 100 réglent dynamiquement l'objectif plan d'imagerie, l'ouverture et le plan de mouvement du bras d'imagerie pour optimiser les touches de signal et les niveaux d'intensité. La commande de mouvement à 5 axes minimise les vibrations lors des essais de composants et de la métrologie, et permet le balayage de composants de grande surface. Le SFX 100 comprend des algorithmes automatisés de reconnaissance de motifs pour l'identification des composants et des algorithmes automatisés de reconnaissance de signaux et de caractéristiques pour le traitement des signaux et la détection des défauts. La machine est intégrée à la technologie intégrée d'évaluation du signal pour produire des données rapidement, précisément et efficacement. Il peut également créer des modèles de composants et d'outils détaillés pour l'analyse et la validation de fabrication. KLA/TENCOR SFX 100 dispose d'une interface utilisateur intuitive et d'une interface utilisateur graphique pour une configuration, un fonctionnement et un reporting simples. Il est également intégré à SCI (ou Standard Calibration Interface) pour l'échange efficace de données, l'intégration avec d'autres systèmes, et le traitement par lots. En résumé, KLA SFX 100 est un atout très sophistiqué spécialement conçu pour permettre des tests, des inspections et des processus de métrologie de haute précision. Sa combinaison d'optiques adaptatives, de commande de mouvement à 5 axes, d'algorithmes automatisés de reconnaissance de motifs et d'éléments de capteurs à grande vitesse permet de mesurer avec précision les composants intégrés et les composants opto-électroniques. Son interface utilisateur intuitive, ses algorithmes automatisés de reconnaissance des signaux et des fonctionnalités et sa technologie intégrée d'évaluation des signaux simplifient le processus de test des composants et de métrologie.