Occasion KLA / TENCOR TF-2 #136452 à vendre en France
URL copiée avec succès !
Appuyez sur pour zoomer
![KLA / TENCOR TF-2 Photo Utilisé KLA / TENCOR TF-2 À vendre](https://cdn.caeonline.com/images/kla-tencor_tf-2_161274.png)
![Loading](/img/loader.gif)
ID: 136452
Taille de la plaquette: 8"
Style Vintage: 1994
Wafer defect inspection systems, 8", 1994 vintage.
KLA/TENCOR TF-2 est un système avancé d'essai et de métrologie de plaquettes pour l'industrie des semi-conducteurs. Il s'agit d'une solution entièrement automatisée pour l'inspection, la mesure et l'analyse de plaquettes à fort potentiel pour fournir des puces de haute qualité de manière efficace. KLA TF-2 utilise des systèmes de détection et d'imagerie avancés pour fournir une gamme complète d'outils d'inspection, d'analyse et de métrologie. Le système utilise le balayage optique haute résolution et l'imagerie pour détecter les motifs anormaux et les défauts au niveau du nanomètre. Il dispose également d'un profilomètre de temps de vol et d'un interféromètre pour fournir des profils de hauteur de haute fidélité, ce qui lui permet de détecter une topographie régulière et irrégulière aussi petite que 0,5 nanomètre. Les données d'inspection sont recueillies, analysées et évaluées en temps réel, ce qui permet un contrôle rapide et précis des processus. TENCOR TF-2 permet l'acquisition et l'analyse automatisées de données critiques de contamination, de qualité et de rendement, éliminant presque les erreurs de traitement et de saisie des données. Le système comprend un logiciel de pointe pour comparer les défauts du même type, pour la reconnaissance complète des caractéristiques, pour la mesure des bords et des profils, pour les mesures de recouvrement des cartes de déformation et d'enfoncement, et pour l'estimation des contraintes et de la densité des défauts. TF-2 comprend également un bac automatisé QC/QA, des capacités de contrôle des lots et un examen final au niveau des plaquettes. KLA/TENCOR TF-2 offre des fonctionnalités avancées dans une seule machine, ce qui en fait une solution plutôt complète pour les applications industrielles et matérielles. Il commande des temps d'inspection relativement plus rapides, un meilleur contrôle du rendement et du processus, une précision et une répétabilité superbes, et des coûts totaux de propriété plus faibles. Sa rapidité et sa fiabilité en font un choix privilégié dans les procédés de production de semi-conducteurs à haut rendement.
Il n'y a pas encore de critiques