Occasion KLA / TENCOR / THERMA-WAVE FX 200 #9282493 à vendre en France

ID: 9282493
Film thickness measurement system.
KLA/TENCOR/THERMA-WAVE FX 200 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour la fabrication avancée de semi-conducteurs. Il s'agit d'un système complet capable d'effectuer une grande variété de tâches d'essai et de métrologie des plaquettes, comme l'inspection des défauts, l'analyse des pannes, l'évaluation des processus et les essais électriques au niveau des plaquettes. L'unité dispose d'une gamme de caractéristiques conçues pour faciliter la précision et la précision dans les essais. Par exemple, la machine intègre une technologie optique de pointe, ce qui lui permet d'obtenir des résultats de très haute résolution. Il est également capable d'effectuer des mesures en temps réel, permettant aux opérateurs de surveiller et d'ajuster rapidement et facilement les processus. En outre, l'outil peut être configuré avec plusieurs ensembles d'options pour répondre aux besoins spécifiques de différentes applications. Les composants matériels de l'actif sont robustes et fiables. La plate-forme optique et de balayage intégrée est conçue pour accueillir une variété de tailles d'échantillons et est capable de fournir des inspections à grande vitesse. Le modèle est également construit avec une architecture ouverte, le rendant compatible avec une variété de périphériques et d'accessoires. L'équipement dispose d'un logiciel sophistiqué qui permet aux utilisateurs de personnaliser et d'optimiser les performances du système. Le logiciel fournit également un ensemble riche d'outils d'analyse, ce qui le rend facile à surveiller et évaluer les processus. En outre, il comprend une gamme d'outils de données qui permettent aux utilisateurs d'accéder rapidement aux données de contrôle et de mesure. La KLA FX 200 est conçue pour fournir une solution complète aux exigences d'essais de plaquettes et de métrologie. Sa technologie optique de pointe, son matériel robuste et ses logiciels polyvalents lui permettent d'obtenir des résultats précis et fiables pour une variété de procédés semi-conducteurs.
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