Occasion KLA / TENCOR / THERMA-WAVE OP 2600 #9212477 à vendre en France

KLA/TENCOR/THERMA-WAVE OP 2600 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes qui fournit des mesures de métrologie complètes dans un seul ensemble intégré. Ce système utilise des technologies à rayons X, optiques et laser pour inspecter et mesurer avec précision les plaquettes semi-conductrices à différents stades de fabrication. KLA OP 2600 dispose d'une grande chambre de mesure automatisée qui fournit un environnement de mesure stable pour des résultats de mesure précis et reproductibles. Cette unité utilise la projection optique par laser pour lire et comparer les paramètres et les dimensions détaillées qui définissent les caractéristiques critiques et les photomasques sur la plaquette. De plus, cette machine utilise la technologie d'inspection par rayons X pour acquérir des images à haute résolution de surfaces de plaquettes afin d'évaluer en détail des caractéristiques telles que la finition de la surface, la forme, la dimension des caractéristiques et la propreté de la surface. Cet équipement est bien adapté pour une utilisation dans les procédés de fabrication de semi-conducteurs, car il fournit une capacité de mesure et de test de puce rapide et complète sur une large gamme de tailles de plaquettes. Cet outil est conçu pour être facilement extensible par l'ajout de microscope à balayage laser, microscope électronique à balayage et capacités de microscope à force atomique. Les capacités logicielles intégrées comprennent le traitement des données, la reconnaissance des défauts, la mesure et la comparaison. TENCOR OP 2600 dispose d'une interface utilisateur graphique intuitive (GUI) qui permet de générer rapidement et facilement des images 3D des plaquettes inspectées. L'IPG donne également accès à l'analyse et à la production de données pour faciliter les activités de contrôle de la qualité et de recherche. Cet actif répond aux normes ISO les plus élevées dans l'industrie des essais de plaquettes et de la métrologie et est destiné aux clients qui souhaitent effectuer des mesures de métrologie automatisées et précises. Depuis des décennies, THERMA-WAVE OP 2600 est la référence en matière de contrôle de la qualité pour une gamme de procédés de fabrication de semi-conducteurs. Ce modèle utilise les dernières technologies de laser et de rayons X pour fournir une précision et une répétabilité de métrologie supérieures. Grâce à cet équipement, les clients peuvent obtenir des résultats de mesure répétables et fiables tout en réduisant considérablement le temps et les coûts requis pour l'inspection et la métrologie des plaquettes.