Occasion KLA / TENCOR / THERMA-WAVE OPTIPROBE 2600 DUV #9212839 à vendre en France

KLA / TENCOR / THERMA-WAVE OPTIPROBE 2600 DUV
ID: 9212839
Taille de la plaquette: 8"
Style Vintage: 1996
Thickness measurement system, 8" Upgraded SBC to Pentium III 600 MHz Measurement tool: BPR, BPE, VAS + DUV 1996 vintage.
KLA/TENCOR/THERMA-WAVE OPTIPROBE 2600 DUV est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour la recherche et la fabrication de dispositifs semi-conducteurs avancés. Ce système de pointe utilise des technologies optiques de pointe pour inspecter et analyser les plaquettes pendant le processus de fabrication. Il fournit des mesures précises de l'épaisseur diélectrique, de la topographie et d'autres structures détaillées sur la surface de la plaquette. KLA OPTIPROBE 2600 DUV est une unité hautement intégrée conçue avec une empreinte efficace et compacte, idéale pour les environnements de salles blanches et de lignes de production. Il est équipé d'une optique de focalisation dynamique et d'une machine de transport automatisée, permettant des mesures rapides et précises. L'outil dispose également d'une technologie brevetée brevetée de détection d'imagerie intégrée pour capturer des images haute résolution dans des vitesses d'enregistrement. L'actif supporte un large éventail d'applications liées à la métrologie de surface des plaquettes, y compris l'épaisseur diélectrique non destructive, la topographie, la constante optique, l'épaisseur résiduelle, la rugosité de surface, les paramètres géo-métriques, la contrainte du film et les mesures de morphométrie ligne/espace 3D. Il fournit une rétroaction critique qui aide les ingénieurs et les gestionnaires de produits à identifier les problèmes de fabrication et à les résoudre rapidement. TENCOR OPTIPROBE 2600DUV est le premier modèle qui supporte les mesures de lithographie UV extrême (EUV), ce qui en fait un outil indispensable pour la recherche et la fabrication de dispositifs semi-conducteurs avancés. Il est conçu pour avoir un équipement d'étalonnage automatisé, utilisant l'interférométrie laser et des échantillons d'artefact pour assurer des mesures fiables et répétables. Ce système haut de gamme est capable d'effectuer des mesures complexes avec une vitesse et une précision maximales, ce qui en fait un outil essentiel dans la recherche et le processus de production de dispositifs semi-conducteurs modernes. Le sous-système d'automatisation robuste, le fonctionnement efficace et la haute précision font d'OPTIPROBE 2600 DUV une solution idéale pour la fabrication de produits semi-conducteurs de haute performance.
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