Occasion KLA / TENCOR / THERMA-WAVE Optiprobe 2600 #293671329 à vendre en France

KLA/TENCOR/THERMA-WAVE Optiprobe 2600 Wafer Testing and Metrology Equipment est un système de test et de métrologie fiable et avancé conçu pour la surveillance et le contrôle du processus de fabrication des semi-conducteurs. KLA Optiprobe 2600 est équipé d'une unité d'imagerie optique avancée qui lui permet d'analyser des plaquettes avec une haute résolution et précision. La machine d'imagerie optique de pointe dispose de plusieurs méthodologies, telles que l'inspection ponctuelle, l'imagerie de surface, la cartographie laser et la mesure des particules, pour caractériser la taille des caractéristiques, l'épaisseur des couches et la rugosité de surface. La carte des plaquettes générée par TENCOR Optiprobe 2600 comprend une vue sommaire des différentes caractéristiques de la plaquette, ainsi que différents affichages pour les mesures individuelles de chaque unité. L'affichage des résultats de mesure permet aux utilisateurs d'identifier rapidement les variations de performance entre les différentes parties de la plaquette. Pour garantir la qualité et l'uniformité de la plaquette, THERMA-WAVE Optiprobe 2600 comprend un logiciel d'analyse de données puissant. Ce logiciel d'analyse de données fournit une série complète d'outils pour analyser les cartes des plaquettes pour la détection des anomalies, de la contamination et des changements de processus. Le logiciel prend également en charge une large gamme de formats de fichiers, ce qui permet aux utilisateurs d'intégrer facilement des paramètres de contrôle de processus externes et l'analyse. Optiprobe 2600 est également compatible avec une gamme de microscopes électroniques à balayage (SEM) pour la surveillance et le contrôle avancés des processus. La combinaison KLA/TENCOR/THERMA-WAVE Optiprobe 2600 avec SEM est connue sous le nom de SPM (scanning probe microscopy) fournit la mesure la plus haute résolution de texture de surface dans le processus de fabrication des semi-conducteurs. En plus de fournir une suite complète d'outils d'analyse de test, KLA Optiprobe 2600 est également un outil facile à utiliser. L'interface utilisateur graphique est intuitive et permet un accès rapide aux différents écrans de mesure. Cela permet aux utilisateurs de diagnostiquer rapidement les anomalies de production et de prendre des mesures correctives. TENCOR Optiprobe 2600 est un outil fiable et avancé de test et de métrologie des plaquettes qui permet aux fabricants de semi-conducteurs de surveiller plus facilement les processus de production et de garantir un produit de la plus haute qualité. Avec son modèle d'imagerie optique, ses capacités d'analyse de données et sa compatibilité avec les SEM, THERMA-WAVE Optiprobe 2600 offre un moyen efficace de surveiller le processus de fabrication des plaquettes.