Occasion KLA / TENCOR / THERMA-WAVE Optiprobe 2600 #9407880 à vendre en France

KLA / TENCOR / THERMA-WAVE Optiprobe 2600
ID: 9407880
Film thickness measurement system.
KLA/TENCOR/THERMA-WAVE Optiprobe 2600 est un système de test et de métrologie de plaquettes de pointe qui permet aux ingénieurs de mesurer et d'analyser rapidement et précisément les caractéristiques d'une plaquette de silicium pour en vérifier la précision et la répétabilité. KLA Optiprobe 2600 dispose d'un matériel robuste, d'une optique supérieure et d'algorithmes avancés pour donner aux utilisateurs un niveau de précision et de répétabilité inégalé dans les tests de plaquettes. TENCOR Optiprobe 2600 utilise un microscope optique avancé pour permettre aux opérateurs d'acquérir des images de caractéristiques sur des plaquettes de silicium. Cet outil est utilisé pour mesurer les positions et tailles exactes des caractéristiques sur la surface de la plaquette. Optiprobe 2600 utilise également une technologie brevetée de profilage multi-pistes qui permet aux opérateurs d'identifier et d'analyser rapidement les dimensions et les profondeurs arbitraires des caractéristiques avec la plus grande précision. Ceci permet également de mesurer avec précision la hauteur, l'angle et l'état de surface des plaquettes. THERMA-WAVE Optiprobe 2600 est livré avec plusieurs contrôleurs avancés pour permettre aux utilisateurs d'automatiser le processus de test des plaquettes. Ces contrôleurs aident les utilisateurs à collecter plusieurs points de données sur une seule plaquette et leur permettent de stocker ces informations dans une base de données. Cela leur permet de comparer les résultats de différentes plaquettes et d'optimiser leur processus de test. KLA/TENCOR/THERMA-WAVE Optiprobe 2600 facilite également le suivi précis de l'expérience pour s'assurer que les paramètres de performance sont maintenus. Pour l'analyse des données, KLA Optiprobe 2600 est équipé d'une interface utilisateur graphique qui automatise le processus de corrélation des données de plusieurs plaquettes et les cartographie à diverses caractéristiques. Il est ainsi facile de comparer les plaquettes à plusieurs mises en page. L'interface utilisateur est également équipée d'algorithmes avancés qui permettent aux opérateurs d'analyser des motifs précis qui caractérisent la présence de défauts et d'irrégularités dans la plaquette. TENCOR Optiprobe 2600 est spécifiquement conçu pour maximiser les performances critiques de la mission et le débit des essais de wafer et de métrologie dans le processus de fabrication. Cela le rend très fiable et rentable pour répondre aux exigences précises des fabricants de semi-conducteurs.
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