Occasion KLA / TENCOR / THERMA-WAVE OPTIPROBE 2600B #9220003 à vendre en France

KLA / TENCOR / THERMA-WAVE OPTIPROBE 2600B
ID: 9220003
Taille de la plaquette: 8"
Film thickness measurement system, 8".
KLA OptiProbe™ 2600B Wafer Testing and Metrology Equipment est un système de pointe pour la caractérisation et la vérification de fabrication des wafers. Conçu pour mesurer la topographie de surface, la superposition et les mesures de qualité, le OptiProbe™ 2600B combine des optiques puissantes, des commandes de mouvement et des technologies thermiques pour créer une plate-forme complète pour un processus de fabrication efficace. Le OptiProbe™ 2600B offre une métrologie profilée optique 2D avec des capacités d'imagerie sensibles au contexte. Il utilise des interfaces graphiques intuitives (UI) et une interface tactile pour permettre aux utilisateurs de configurer rapidement l'unité pour diverses tâches et de visualiser les résultats de la métrologie. Le OptiProbe™ 2600B utilise une optique sur axe avancée pour capturer rapidement les mesures en temps réel, ce qui permet des tests de plaquettes plus rapides. De plus, il intègre des technologies brevetées de détection de métrologie thermique TENCOR qui permettent de caractériser avec précision les métriques topographiques telles que la planarité, la rugosité de surface et l'angle de contact. En particulier, le OptiProbe™ 2600B intègre la capacité de THERMA-WAVE renommée Unified Overlay™ pour fournir des mesures complètes de précision et de répétabilité de superposition tout en atténuant les effets de la dérive thermique. La machine prend également en charge les plates-formes et les processus de métrologie de pointe, y compris l'inspection avancée des défauts et la métrologie sous forme de CD. Compte tenu de ses capacités avancées, le OptiProbe™ 2600B permet aux fabricants de concevoir et de contrôler l'efficacité de leurs processus de test et de fabrication de plaquettes avec peu de temps d'arrêt ou de coûts supplémentaires. En résumé, KLA/TENCOR/THERMA-WAVE OptiProbe™ 2600B Wafer Testing and Metrology Tool est une plate-forme avancée et complète qui combine des technologies optiques, de contrôle de mouvement et thermiques pour la caractérisation et la vérification de fabrication des plaquettes de manière efficace et rentable. De son interface intuitive GUI et écran tactile à ses puissantes capacités Unified Overlay™, le OptiProbe™ 2600B est une solution idéale pour les fabricants qui cherchent à maximiser leurs processus de test et de fabrication de plaquettes.
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