Occasion KLA / TENCOR / THERMA-WAVE OPTIPROBE 2600B #9220005 à vendre en France

Les équipements KLA/TENCOR/THERMA-WAVE OPTIPROBE 2600B d'essai et de métrologie des plaquettes offrent des capacités avancées pour un large éventail d'applications d'essai et de métrologie des plaquettes, y compris le développement de processus, la surveillance et le contrôle, la détection des défauts, l'identification des défauts, la collecte de données, le pronostic au niveau des plaquettes, l'amélioration des rendements et l'analyse au niveau des plaquettes. Ce système est doté d'une conception très flexible, évolutive et configurable, capable de travailler avec une variété de substrats, dont le silicium, le germanium, l'arséniure de gallium, le phosphure d'indium, etc. Il supporte également des plaquettes jusqu'à 200mm de diamètre avec une précision de 10µm. KLA OPTIPROBE 2600B consiste en un facteur de forme compact et de masse conçu pour faciliter, accélérer et réduire les activités de test et de métrologie. Les composants de l'unité comprennent un sous-système Planned-Debug, l'automatisation des modèles de test et une série complète d'outils de test. Le sous-système Intended-Debug fournit une analyse détaillée des plaquettes individuelles avec des fonctionnalités telles que la localisation des défauts de circuit, l'optimisation des paramètres du circuit et l'analyse des défauts. L'automatisation des modèles de test simplifie l'optimisation des modèles de test utilisés pour la métrologie et les tests calibrés pour obtenir les meilleurs résultats. En outre, TENCOR OPTIPROBE 2600B comprend une gamme complète d'outils de test tels que le mouvement de scène XY, le balayage de sonde, l'interface numérique homme machine (HMI), processeur logique floue, et divers autres. OPTIPROBE 2600B dispose d'une machine d'acquisition de scan-set avancée qui offre jusqu'à trois scans simultanés sans chevauchement pour éliminer le temps passé lors de l'échange de plaquettes et de sondes de test. Il offre également jusqu'à 12 axes de positionnement simultanés avec une précision atteignant +/- 1 micron, et une compensation non linéaire embarquée pour les étapes de test des axes xy, z et thêta. Tous les résultats de mesure sont capturés à l'aide de l'enregistreur de données Matlab, ce qui permet de transférer facilement les données dans une feuille de calcul ou un autre programme d'analyse. De plus, THERMA-WAVE OPTIPROBE 2600B est livré avec une base de données intégrée, ce qui facilite la gestion, l'archivage et la comparaison des résultats sur une plus longue période de temps. Dans l'ensemble, KLA/TENCOR/THERMA-WAVE OPTIPROBE 2600B wafer testing and metrology tool est un outil puissant, polyvalent et fiable qui peut être utilisé pour une variété d'applications de test de wafer et de métrologie. Sa gamme complète de fonctionnalités et de fonctions aidera à rationaliser le développement, le contrôle et l'analyse des grandes plaquettes. Il fournit également aux utilisateurs jusqu'à 12 axes de positionnement simultanés pour des mesures précises, et un actif de compensation non linéaire intégré pour des résultats lisses et précis. L'enregistreur de données Matlab intégré et la base de données embarquée facilitent la gestion, l'archivage et la comparaison des données sur de longues périodes. Grâce à la grande précision et à la flexibilité offertes par KLA OPTIPROBE 2600B, les utilisateurs peuvent garantir des résultats fiables de tests et de métrologie pour chaque plaquette fabriquée.