Occasion KLA / TENCOR / THERMA-WAVE Optiprobe 5340 #293814729 à vendre en France

KLA/TENCOR/THERMA-WAVE Optiprobe 5340 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes de pointe utilisé pour fournir une caractérisation de haute précision et de haute précision de divers types et matériaux de plaquettes. Le 5340 est un système automatisé qui peut analyser et mesurer les caractéristiques sur une variété de plaquettes à l'échelle des microns et des nanomètres. L'unité se compose d'un microscope optique et d'un étage d'échantillonnage contrôlé par ordinateur pour effectuer diverses analyses automatisées, y compris des mesures optiques, électriques et chimiques. Le microscope optique a un objectif de grande taille qui permet l'imagerie ultra haute résolution et permet l'inspection de petites tailles de fonctionnalités telles que des cellules mémoires adressables ou des circuits intégrés. L'étage d'échantillonnage contrôlé par ordinateur permet le déplacement automatisé des plaquettes et des têtes de mesure dans les trois dimensions, ce qui permet une analyse précise et répétable au niveau des plaquettes des géométries complexes. Le 5340 est équipé d'une variété de détecteurs, dont une caméra CCD et un spectromètre, qui permettent d'analyser les caractéristiques de surface, les matériaux et d'autres caractéristiques importantes. La machine dispose également d'une variété d'agences logicielles spécialisées qui permettent l'alignement automatisé, la couture et la mesure des fichiers de données, ainsi que d'autres tâches. En outre, l'outil offre une variété d'options d'intégration et d'interface qui permettent de se connecter à d'autres systèmes, permettant le partage et l'analyse de données avec des sources de données externes. KLA Optiprobe 5340 offre des performances de test et de métrologie de pointe pour un large éventail d'applications, avec ses mécanismes avancés, sa précision, sa précision et sa capacité. L'actif permet une analyse complexe, automatisée et répétable au niveau des plaquettes des caractéristiques des nanomètres et des microns. Le modèle est idéal pour les applications cruciales de caractérisation et de test des plaquettes, telles que l'analyse de défaillance des semi-conducteurs, la surveillance et le contrôle des processus, les essais de circuits intégrés et la localisation des défauts.